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LabcNano M Trimos高精度手動多功能測長機校準量檢具

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Trimos高精度手動多功能測長機校準量檢具
瑞士丹青LabcNano M系列手動高精度多功能測長機采用與德國Heidenhain合作定制的新型光柵測量系統,光柵尺長350毫米,測量精度高、大范圍內可絕對測量。基座采用特種材料鑄造,儀器穩定可靠,三軸全自動測量,速度快可有效消除手動操作誤差。高精度的測長機是計量室長度尺寸溯源基準之一。計量室用于檢定校準各種量檢具如:量塊、光面(螺紋)環塞

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Trimos高精度手動多功能測長機校準量檢具

瑞士丹青LabcNano  M系列手動高精度多功能測長機采用與德國Heidenhain合作定制的新型光柵測量系統,光柵尺長350毫米,測量精度高、大范圍內可絕對測量。基座采用特種材料鑄造,儀器穩定可靠,三軸全自動測量,速度快可有效消除手動操作誤差。高精度的測長機是計量室長度尺寸溯源基準之一。計量室用于檢定校準各種量檢具如:量塊、光面(螺紋)環塞規、光滑錐度環塞規、螺紋錐度環塞規、軸承內外滾道、花鍵量規、卡規、校準桿、尺類、表類。

LabcNano M特點:

絕對測量范圍 350 mm,光柵尺長度 350 mm,分辨率 0.001µm,最大允許誤差-0.85 +[L(mm) / 2000]µm

重復精度0.04µm,測量力0-12N 連續可調,電感傳感器測力0.3/0.5N,尾座移動(X)手動

◆ 五軸工作臺承重40kg,臺面尺寸360X120mm,Z軸升降范圍80mm,Y 軸移動范圍50mm,傾斜調整角度±2°,水平旋轉角度±4°,Heidenhain高精度新型光柵測量系統,內置溫補系統,實時補償

Trimos高精度手動多功能測長機校準量檢具

瑞士丹青LabcNano  M系列手動高精度多功能測長機采用與德國Heidenhain合作定制的新型光柵測量系統,光柵尺長350毫米,測量精度高、大范圍內可絕對測量。基座采用特種材料鑄造,儀器穩定可靠,三軸全自動測量,速度快可有效消除手動操作誤差。高精度的測長機是計量室長度尺寸溯源基準之一。計量室用于檢定校準各種量檢具如:量塊、光面(螺紋)環塞規、光滑錐度環塞規、螺紋錐度環塞規、軸承內外滾道、花鍵量規、卡規、校準桿、尺類、表類。











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