MultiMode8-HR原子力顯微鏡、擴展性的高分辨AFMMultimode8-HRMultiMode測試平臺作為歷史悠久的經典機型，由于其的分辨率與性能享譽至今

MultiMode 8-HR 原子力顯微鏡、擴展性的高分辨 AFM

Multimode 8-HR

MultiMode® 測試平臺作為歷史悠久的經典機型，由于其的分辨率與性能享譽至今。Multimode 8-HR 原子力顯微鏡通過高速PeakForce Tapping ®、增強的 PeakForce QNM®、全新的 FASTForce Volume和布魯克探針技術，在成像速度、分辨率和納米機械性能方面有了進一步的改進，使得綜合性能顯著提升。

高分辨成像

讓科學家能夠捕捉分子和生物結構的細的圖像，如蛋白質或DNA雙螺旋。

便捷的大師級成果

給予所有用戶更快、更高質量的可重復性實驗結果。

無限靈活配置

支持各種附件，可根據您的特定應用定制您的 AFM。 

特征：NanoScope 開放工具箱

MultiMode 8-HR 提供了多種用于監控信號、修改實時操作和實現自定義離線分析的方式。標準 NanoScope® 可直接打開 MATLAB數據并導出ASCII 碼。您可以使用Virtual SAM 監控內部信號并對輸入信號進行修改，或選配 SAM lll 擴展您的功能。還可以通過選配納米刻蝕和修改COM界面來控制AFM的功能。您可以利用 NanoScope 開放訪問功能將實驗擴展到標準 AFM 模式之外，以開發的模式來獲取全新的數據。

用于信號輸入和輸出的 NanoScope 控制器。

PeakForce-HR 模塊：

MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力輕敲技術，在空氣成像速度加快了6倍，而不會降低圖像質量。

使用PeakForce-HR 對聚合物成像。掃描范圍 1 μm ，掃描速度 5 Hz。 樣品由北卡羅來納大學的 S. Sheiko提供。

的環境控制：

Multimode 8-HR 具有對樣品加熱和冷卻功能。低溫配件可在 -35°C 至 100°C 的空氣或液體中加熱和冷卻。高溫配件可加熱至 250°C，通常用于研究聚合物相變。變溫功能的之處在于，允許在變溫過程中通入保護氣，防止樣品氧化和加熱，還可以同時加熱探針，防止探針被污染。環境控制附件既可與加熱/冷卻配件集成在一起，也可作為單獨的環境室選配。

三聚物的 PeakForce-HR 圖像。從室溫（左）開始，樣品在加熱至 60°C（中間）時熔化，然后在冷卻至 55°C（右）時重新結晶。掃描范圍 3 μm，以 10 Hz 成像。

配件：

布魯克 AFM 探針

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