MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構，光譜信息進行測試和分析，大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質量信號質量的同時，保證了測試效率。精密光路設計能夠實現1um*級別的聚焦光斑和探測區域，系統可增配低波數模塊，實現75cm-1的探測范圍。
MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構，光譜信息進行測試和分析，大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質量信號質量的同時，保證了測試效率。精密光路設計能夠實現1um*級別的聚焦光斑和探測區域，系統可增配低波數模塊，實現75cm-1的探測范圍。
MicroTEQ-R1 顯微光譜測量系統，采用高精度微區光路平臺，通過加裝于正置顯微鏡光路中的拉曼光譜模塊，實現了共焦拉曼*測量功能。幫助用戶快速的對樣品微觀結構，光譜信息進行測試和分析，大大的降低了微觀測試的復雜程度。系統使用制冷型高性能光纖光譜儀QEPro，在提供高質量信號質量的同時，保證了測試效率。精密光路設計能夠實現1um*級別的聚焦光斑和探測區域，系統可增配低波數模塊，實現75cm-1的探測范圍。
型號Microteq R1 QEPro光譜儀型號532Raman（同S1系統）785Raman探測器~10cm-1 @5μm狹縫（典型值）～6cm-1@5um狹縫（典型值）分辨率半導體制冷背照式減薄型面陣探測器光路接口SMA905光纖接口顯微鏡光路無限遠色差校正光學系統物鏡4組明暗場消色差物鏡：5X，10X，20X，50X照明器明暗場照明器相機CMOS相機，≥5.0MP光譜模塊光路激發，接收成像共焦設計適用激光波長532nm（可定制其他波長）激光功率0-20mW（到樣品）聚焦光斑尺寸2μm@50X（典型值）光譜范圍150-4200cm-1150-2000cm-1低波數模塊75cm-1起尺寸250*150*75mm重量1.5Kg光學接口激光器：FC/PC，光譜儀：SMA905顯微鏡接口兼容國內外主流品牌顯微鏡
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