全局高光譜顯微鏡

IMA 是一種高光譜顯微鏡，可提供 VIS、NIR 和 SWIR 范圍 （400 nm - 1620 nm） 的光譜和空間信息。該系統可快速映射光致發光、電致發光、熒光、反射率和透射率。IMA 基于高通量全局成像濾光片，比基于標準逐點或線掃描的系統更快、更高效。

IMA 應用概述

• 執行復雜的材料分析，如太陽能電池表征和半導體質量控制。

• 在復雜環境中研究紅外標記物，包括活細胞和組織。

• 檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品（如聚合物、晶體或活細胞）的對比度。