產品詳情

InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用國際標準的設計和制造工藝技術，應用了日本濱松公司**進的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個數，與國際光譜儀＊＊技術同步，采用真空光室設計及全數字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡單易學，具有數據＊＊，長期穩(wěn)定性好等優(yōu)點。

鑄造 冶金 機械加工 消防 航天航空 金屬加工 金屬材料質量鑒定 新材料開發(fā)

全譜譜線圖

CCD+CMOS全譜分析技術

豐富的譜線信息，分析靈敏線更多，保證分析的準確度；

基于全譜測量的數據，能夠正確區(qū)分背景和譜線，有效提高測量精度；

智能選擇＊合適的靈敏線，通過多譜線結合技術，實現低中高含量段的檢測需求；

基于全譜測量數據的多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精確測量。

CMOS線陣傳感器

**的實時智能漂移校正技術

在分析過程中實時進行光譜漂移校正，增強儀器穩(wěn)定性；

減少標準化校正次數，延長校正周期；

自動完成儀器校正，操作更加簡便。

譜線漂移校正

的CMOS檢測技術優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應速度；

CMOS相比CCD具有更好的線性度；

CMOS相比CCD具有的紫外光敏感度，在深紫外區(qū)如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準確。

紫外元素強度對比

• 創(chuàng)CMOS全譜接收技術；

• 人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；

• 一體化光室光學系統設計；

• 可編程脈沖全數字光源技術；

• 可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；

• 波長范圍140-680nm，可滿足更多元素的分析要求。