日立的企業宣言“Inspire the Next”代表著日立為社會奉獻，為新時代注入新活力的決心，以成為“解決方案合作商”為目標，為實現富有而便利的生活做出自己的貢獻。日立以集團愿景為行動方針，融合投入事業的極大熱情與專業能力，力爭在激烈的競爭環境中脫穎而出。

• 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析

• 可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 個元素的鍍層厚度測試，自動修正 X 射線重疊譜線

• 的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數 22 號）到鈾（92 號）各元素

• 測厚行業 20 年知識和經驗的積淀

使用廣受推崇的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術, X-Strata920 可 實現如下測試要求：

• 符合 ISO3497 標準測試方法：金屬鍍層——X 射線光譜法測量鍍層厚度

• 符合 ASTM B568 標準測試方法：X 射線光譜儀測量鍍層厚度，包括 金屬和部分非金屬鍍層

• 至多同時分析 25 種元素

• 開槽式樣品倉結合電機驅動樣品臺，可測量各種尺寸樣品，包括小元 件和大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路      板。所有樣品可 以很方便地 用程控 XY 平臺放置并快速定位到樣品上的各個待測點進 行分析。

• 經過簡單易學的指導，用戶即可通過編程完成自動測量，實現的 樣品測試量和無人操作的測試。

• 使用鼠標控制，可以方便地放置被測樣品/零件，并且精確定位到測 試點。

• 樣品放置方便

• Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm/1.7”） 

• 樣品定位方便

• 樣品臺尺寸：56mm (22") 深 x 61mm (24") 寬 

• XY 向行程：178mm (7") x 178mm (7") 

• 樣品高度 33mm (1.3”)