牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350是三軸、端口安裝式機械手，其特點是具有閉環反饋的壓電馬達，非常適合常規的TEM薄片制備。精確直觀的控制意味著您可以快速、自信地工作，而不存在損壞或丟失樣品的風險。
牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 350以其有效性和易于操作和使用而聞名，用戶可以：
- 中和樣品表面富集電荷；
- 測量納米結構的電學性能（EBIC，EBAC，電流探測）；
- 在FIB中進行TEM樣品制備，包括平面樣品和背切樣品；
- 在SEM中制被以用于TEM和原子探針觀察；
- 制備用于TEM、EDS及其它分析所需的高質量樣品；
- 冷凍提取。
基于第9代探針設計，OmniProbe 350提供精確的納米級控制。其緊湊的端口安裝設計，限度地減少與其他探測器和附件的干擾。憑借穩定的探針平臺和亞納米壓電馬達，這一代的探針具有低振動、低漂移和的定位精度。再結合直觀的用戶界面，其運動方向是基于所見的圖像進行校準的。
其結果是為常規樣品提取（lift-out）提供了的性能。結合可變傾角柵網樣品臺，OmniProbe 350可以輕松制備plan-view樣品和TKD樣品，而無需手動處理柵網或復雜的多步驟提取。
產品特色
*的線性度
線性度測量的是探針與要求的運動方向之間的偏差。在所有方向上可以沿直線移動的探針可以：
- 安全的提取，而不會碰到槽壁
- 制備TEM薄片更快，只需要開挖更小的溝槽
直觀的用戶界面
通過軟件控件探針就像直接在電子圖像中移動
平滑的連續運動
薄片制備工作流程要求探針進行物理接觸，平滑運動確保這一過程不會有掉落或損壞樣品的風險。
精確移動
可存儲位置
- 點擊一下，即可從*縮回位置移動到操作位置
- 保存用戶定義的工作位置
穩定的探針平臺
穩定是對抗振動和漂移的。將樣品附著到探針是通過氣體沉積過程完成的，該過程可能需要幾分鐘。在此過程中，的任何漂移或振動都可能導致樣品內部產生應力，或樣品在自由切割點處突然移動
- 穩定的Omniprobe平臺使閑置時的振動和漂移降低了這些風險
端口安裝式設計
在不使用時*縮回腔室，因此不會影響您的顯微鏡
- 不限制樣品大小
- 不限制樣品臺傾斜
- 不干擾其他探測器或附件
探頭電氣連接
包括用于電壓襯度成像的+/-10V電源
- 低噪音選項可與第三方電子設備結合，以執行EBIC、EBAC和其他電氣測試方法。
