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2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性...
Keithley吉時利 大功率數字源表2650系列專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設計。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性和易用性，可提高研發、生產測試和可靠性環境中的效率。 有兩種儀器可用，提供高達 3000V 或高達 2000W 的脈沖電流功率。
| Keithley吉時利 大功率數字源表2650系列特點 | Keithley吉時利 大功率數字源表2650系列優勢 |
| 高度靈活的四象限電壓和電流源/負載，與高精度電壓表和電流表相耦合 | 提供相比同類產品頗具優勢的性能，具有 6½ 位分辨率。 |
| 源或阱 (2651A) 脈沖功率高達 2000W（±40V、±50A），或高達 200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；輕松連接兩個器件（串聯或并聯）創建高達 ±100A 或 ±80V 的解決方案 | 支持功率半導體、HBLED、光學設備、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復合材料與設備的檢定/測試。應用范圍包括半導體接點溫度檢定；高速、高精度數字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設備測試。 |
| 源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達 180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA） | 提供功率半導體器件檢定和測試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復合材料和器件、高達 3kV 的故障和漏電測試以及亞毫秒瞬態檢定。 |
| 內置基于網絡瀏覽器的軟件 | 支持通過任何瀏覽器、任何計算機、從任何地方進行遠程控制。 |
| 有數字化或積分測量模式可供選擇 | 支持精確檢定瞬態和穩態行為，包括快速變化的熱效應。 |
| TSP（測試腳本處理）技術 | 可以與 2657A 型與 2600B 系列型號輕松地進行系統集成。 |
| TSP-Link 通道擴展總線 | 讓多臺 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達 32 條通道的集成系統。 |
| 兼容于 8010 型高功率設備測試夾具和 8020 型高功率接口面板 | 為封裝部件或晶片級高功率設備測試提供安全而方便的連接。 |
| 免費的測試腳本構建器軟件工具 | 幫助您創建、修改、調試和存儲 TSP 測試腳本。 |
| 選配的 ACS 基礎半導體元器件檢定軟件 | 開發、質量檢驗或故障分析期間執行封裝部件檢定時，較大限度地提高工作效率。 |
| 型號 | 通道 | 電流源/量程 | 電壓源/量程 | 測量分辨率（電流/電壓） | 電源 |
| 2651A | 1 | 50A | 40V | 100fA / 100nV | 2000 W |
| 2657A | 1 | 120mA | 3000V | 1fA / 100nV | 180 W |
大功率2651A 型數字源表進一步豐富了2600A 系列產品。該源表專門針對大功率電子器 件的特性分析和測試而優化設計，可幫助用戶在研發、可靠性及生產領域提高生產力，包 括高亮度LED、功率半導體、DC/DC 轉換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模塊 和組件的特性分析和測試。
與2600A 系列產品的每個成員一樣，2651A 具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載， 組合了精密電壓和電流表。該源表可作為：
• 半導體特征分析儀2651A 型可輸出或吸入高達±40V 和50A。
Keithley吉時利 大功率數字源表2650系列主要特性：
• 源或阱：
- 2,000W脈沖功率(±40V，±50A);
- 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)
• 方便地連接兩個單元(串聯或并聯)形成±100A 或±80V 解決方案
• 1pA 分辨率，可精密測量極低的漏電流
• 1μs/點(1MHz)，連續18 位A/O 轉換器，精確的瞬態特性分析
• 1%至脈沖占空比，適用于脈寬調制(PWM)驅動型器件和特殊驅動類型期間的激勵
• 組合了精密電壓源、電流源、數字多用表、任意波形發生器、電壓或電流脈沖發生器及測量、電子負載及觸發控制器——多功能一體的儀器
• 包括TSP®Express 特性分析軟件、LabVIEW®驅動，以及吉時利的Test Script Builder(測試腳本編輯器)軟件開關環境。
Keithley吉時利 大功率數字源表2650系列典型應用：
• 功率半導體、HBLED 和光器件特性分析和測試
• GaN、SIC 及其他復合材料和
器件的特性分析
• 半導體結溫度特性分析
• 高速、高精度數字化
• 電遷移研究
• 大電流、大功率器件測試
兩種測量模式：數字化或積分
2651A 型有兩種測量模式可對瞬態和穩態行為進行精密地特性分析，包括快速變化的熱 效應。每種模式均由其獨立的模/數(A/D)轉換器定義。
在數字化測量模式下，連續進行1μs/點采樣，每秒可捕獲1,000,000 個讀數。其18 位 A/D 轉換器使用戶能夠精密測量瞬態特性。對于更準確的測量，可利用基于22 位A/D 轉 換器的積分測量模式。全部2600A 系列儀器均具有積分測量模式。
每種測量模式下使用兩個A/D 轉換器(一個 用于電流，另一個用于電壓)，可同時運行 用于準確源讀回，不會影響測試效率。
雙數字化A/D 轉換器以高達1μs/點速率進行連 續采樣，同時對電流和電壓波形進行特性分析。
高速脈沖
2651A 型能夠準確輸出和測量短至100μs 的脈沖，將測試期間的自熱效應影響更大的控制靈活性使用戶能夠在 100μs 至DC 范圍內編程脈寬，在1%至 范圍內編程占空比。單臺儀器可輸出 高達50A 電流脈沖，兩臺組合可輸出高達 100A 電流脈沖。
擴展能力
利用TSP-Link®，可將多臺2651A 和其 他2600A 系列儀器組合在一起，形成最 多64 路通道的更大集成系統。利用內置 500ns 觸發控制器，確保精密定時和嚴 格通道同步。源表儀器的*隔離、獨 立通道確保了真正的SMU-per-pin 測試。
吉時利的TSP 和TSP-Link 技術確保實現真 正的SMU-per-pin 測試，不存在基于主機系 統的功率和/或通道限制。
此外，兩臺2651A 型采用TSP-Link 并 聯時，電流量程從50A 擴展至100A。 當兩個單元串聯時，電壓范圍從40V 擴 展至80V。內置智能特性使多個單元可 作為單臺儀器進行尋址，簡化了測試， 由此形成業內的動態范圍(100A 至 1pA)。這種能力確保用戶可測試各種各 樣的功率半導體和其他器件。
高達50A (2 個單元可達100A)的精密測量確 保更完善和準確的特性分析。
1μV 測量分辨率和高達50A (2 個單元可達 100A)的電流源輸出確保低電平Rds 測量，支 持新一代器件。
2600A 系列儀器的標準能力
每款2651A 均具備其他2600A 系列儀器 提供的全部特性和能力，包括：
• 既可作為臺式I-V 特性分析工具，又可 作為多通道I-V 測試系統的組成部分。
• 無需編程或安裝，TSP Express 軟件 即可快速、簡便地執行常見的I-V 測試。
• ACS 基本版軟件，用于半導體元器件 特性分析(選件)。ACS 基本版軟件現 在具備一種Trace 模式，用于產生一 套特性曲線。
• 吉時利的TSP®(測試腳本處理器)軟件， 能夠創建用戶自定義測試腳本，實現 自動化程度更高的測試，并且支持創 建編程序列，使儀器在沒有PC 直接控 制的情況下異步工作。
• 多臺2600A 系列儀器連接在一個系統 中，實現并行測試和精密定時。
• 符合LXI class C 標準。
• 14 位I/O 線，與探針臺、元件裝卸裝 置或其他自動化工具直接交互。
• USB 端口，利用USB 存儲裝置實現更 大的數據和程序存儲空間。
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