本頁內容：行業挑戰 • 摘要 • 特性和優勢 • 元器件 • 主要技術指標 • 相關是德產品

B2200A 可自動執行表征測試，從而降低測試成本，同時不會影響半導體參數分析儀的測量性能。它支持 4 SMU * Kelvin 配置和電容表，并可在未來進行擴展。此外，它還具有 14 路輸入，每路輸入都使用的內部測量路徑，其中兩路輸入還具有特殊的電容測量補償特性。它還支持脈沖發生器等儀器。用戶可使用鍵盤或可選光筆通過前面板進行操控。

行業挑戰

對半導體晶圓上的眾多測試結構進行所有必要的參數測量，可能需要耗費大量時間和成本。隨著最終用戶設備的成本持續下降，甚至實驗室表征環境也必須降低測試成本。使用包含半自動或全自動晶圓探頭的開關矩陣，可以自動執行表征測試，在每次測試新模塊時也無需操作人員手動復位探頭。這樣既縮短測試時間，又節省測試成本。

許多現有的開關矩陣都有內在的局限性。例如，許多開關矩陣會降低半導體參數分析儀的低電流測量性能，成為測量鏈中弱的環節。如果內部路徑數量不足，那么開關矩陣就無法支持 4 終端* Kelvin 測量和電容表，而且每次將測量從 IV 變成 CV 時都需要花很長時間手動改變電纜連接。最后，如果開關矩陣不能對電容測量結果進行補償，以消除因路徑長度而產生的測量失真，那么這些測量結果也將會是不準確的。

摘要

的開關矩陣性能

B2200A fA 級低泄漏開關主機提供出色的低電流泄漏和電容測量性能，沒有其他替代解決方案所具有的限制。能夠支持 1 fA 測量，意味著它不會降低半導體參數分析儀的高性能。輸入數量足夠多，則可以支持4-SMU * Kelvin 配置。所有 14 路輸入對應的內部路徑，因此可以同時使用。與其他同類解決方案不同，它可以避免每個通道的路徑長度不同所產生的固有誤差，確保電容測量結果不會出現失真；此外，系統提供了必要的參數和算法來補償這些差異。它的模塊化結構支持 12、24、36 或 48 路輸出配置，使用起來具有極大的靈活性。30 MHz 帶寬使它可以使用脈沖發生器等儀器。附加的 LED 顯示屏和使用鍵盤或可選光筆進行操控的前面板，使操作人員可以非常靈活地進行操作。

• 緊跟半導體參數分析儀性能的步伐
  的半導體參數分析儀已經達到新的性能水平。B2200A 開關矩陣能夠支持 1 fA 測量分辨率，緊跟半導體參數分析儀性能的步伐，而不會損失任何測量性能。
• 避免多路復用的測量限制
  避免花費很長時間手動切換 B2200A 的 14 條內部測量路徑，因而延誤測量進度。每路輸入都有自己的內部路徑，使您可以同時使用所有輸入。
• 準確的電容測量
  在測量電容時，電纜長度（包括矩陣中的路徑）對測量結果有很大影響。通過使用針對電容測量優化過的兩路 BNC 輸入，B2200A 開關矩陣主機――與同類解決方案不同――可以校正因為矩陣內部路徑長度而產生的誤差，提供補償參數以確保測量結果不失真。

特性和優勢

元器件

• B2200A fA 級低泄漏開關主機
• B2210A fA 級低泄漏開關模塊

主要技術指標

相關是德產品