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TM系列能譜儀(EDS) Quantax75

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操作簡單且直觀*:和TM4000Plus搭配應用實例*:探測器內置型(制造商: 德國Bruker nano GmbH)

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TM系列能譜儀(EDS) Quantax75

操作簡單且直觀

*
:和TM4000Plus搭配應用實例
*
:探測器內置型
(制造商: 德國Bruker nano GmbH)

  • 特點

  • 規格

特點

通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動到位置,可實時確認其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時,實時顯示點分析、線分析結果等多種分析。

超高的性能(hyper map)成就了一次測試即可獲取點分析、線分析、面分布結果

點分析

可根據點位置移動實時追蹤譜圖,輕松確認目標元素。

實時在線譜峰剝離面分布

分離出常規面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結果。

 

規格

検出器

項目內容
探測器類型硅漂移探測器
探測器面積30 mm2
能量分辨率148 eV (Cu-Kα)
(Mn-Kα時不高于129 eV)
可檢測元素B5~Cf98

關聯產品分類

  • 掃描電子顯微鏡 (SEM)
  • TEM/SEM樣品的前處理裝置


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