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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 日立高新技術(shù)（上海）國(guó)際貿(mào)易有限公司北京分公司
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所在地
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2021/2/26 18:05:32
訪問(wèn)次數(shù) 232

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計(jì)，可以測(cè)定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。*1計(jì)算系統(tǒng)是國(guó)立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果。*EEM是日立*科學(xué)公司在中國(guó)和日本的注冊(cè)商標(biāo)

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熒光分布成像系統(tǒng) EEM® View

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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計(jì)，可以測(cè)定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法^*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像^*1(熒光光譜、反射光譜)。

*1: 計(jì)算系統(tǒng)是國(guó)立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果。

*: “EEM”是日立*科學(xué)公司在中國(guó)和日本的注冊(cè)商標(biāo)

特點(diǎn)
應(yīng)用數(shù)據(jù)
指標(biāo)

特點(diǎn)

什么是EEM View

新技術(shù)可同時(shí)獲得熒光 · 反射圖像和光譜

測(cè)定樣品的光譜數(shù)據(jù)（反射光譜、熒光光譜）
在不同光源條件（白光和單色光）下拍攝樣品
　（區(qū)域:Φ20 mm、波長(zhǎng)范圍:380~700 nm）
采用AI光譜圖像處理算法^＊1，能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息^＊1（熒光光譜、反射光譜）

*1: 計(jì)算系統(tǒng)是國(guó)立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果

EEM View Analysis 界面（樣品：LED電路板）

熒光分布成像系統(tǒng)概要

均勻的光源系統(tǒng)

同時(shí)獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜！

積分球漫反射使光源均勻化
利用積分球收集的光均勻照射樣品
采用熒光檢測(cè)器和CMOS相機(jī)雙檢測(cè)模式

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計(jì)的樣品倉(cāng)內(nèi)。入射光經(jīng)過(guò)積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標(biāo)配的熒光檢測(cè)器可以獲得樣品熒光光譜，結(jié)合積分球下方的CMOS相機(jī)可獲得樣品圖像，并利用*的AI光譜圖像處理算法，可以同時(shí)得到反射和熒光圖像。

樣品安裝簡(jiǎn)單，適用于各種樣品測(cè)試！

樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡(jiǎn)單！

板狀樣品：通過(guò)石英窗安裝樣品。
粉末樣品：將粉末填充至樣品平整夾具中，置于粉末樣品池支架，或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。

校正時(shí)，需放置好熒光標(biāo)準(zhǔn)樣品。
請(qǐng)使用選配的標(biāo)準(zhǔn)白板(100 %)和空白樣品(0 %)進(jìn)行校正。此校正工具可被應(yīng)用于熒光強(qiáng)度、反射率校正，以及圖像不同區(qū)域的亮度分布校正。

應(yīng)用數(shù)據(jù)

【應(yīng)用實(shí)例】微結(jié)構(gòu)材料的熒光特性和結(jié)構(gòu)確認(rèn)

為了提高可視性，我們測(cè)量了具有精細(xì)結(jié)構(gòu)的熒光反射片。

同時(shí)獲得光譜數(shù)據(jù)和樣品圖像

對(duì)樣品照射360 nm～700 nm范圍內(nèi)的單色光以及白光。此時(shí)，可獲得不同光源條件下的圖像，同時(shí)通過(guò)熒光檢測(cè)器可獲得熒光光譜。測(cè)定完成后，可以查看樣品的三維熒光光譜（激發(fā)波長(zhǎng)、發(fā)射波長(zhǎng)、熒光強(qiáng)度）。在分析軟件中，可對(duì)圖像進(jìn)行放大，從而顯示不同區(qū)域的熒光 · 反射光譜。因此能夠確認(rèn)光學(xué)性能分布不均勻的樣品的反射和熒光光譜。

計(jì)算、顯示不同區(qū)域的光譜（熒光 · 反射）

顯示分離圖像（熒光 · 反射）

對(duì)拍攝到的圖像進(jìn)行反射光成分圖像與熒光成分圖像分離

利用AI光譜圖像處理算法，將拍攝的圖像分離為反射光成分和熒光成分圖像。結(jié)果，反射光成分圖像顯示為橙色，熒光成分圖像顯示為綠色。二者分別與反射光譜與熒光光譜的單色光一致。由此可知，此樣品是橙色反射光和綠色熒光的混合，所以在白光下呈黃色。此外，通過(guò)反射圖像和熒光圖像可看出樣品不同區(qū)域的光學(xué)特性（圖像圖案）差異。放大圖像后可以看到，反射板的微細(xì)結(jié)構(gòu)存在規(guī)律的間隔，其間隔寬度是200 μm。

指標(biāo)

主要功能

主要功能
項(xiàng)目	內(nèi)容
EEM View模式（測(cè)定模式）	三維熒光光譜的測(cè)定
	單色光圖像
	白色光圖像
	預(yù)覽圖像
數(shù)據(jù)處理	顯示縮略圖
	顯示三維熒光光譜（等高線，漸變圖）
	顯示激發(fā)/發(fā)射光譜
	顯示放大圖像
	圖像分區(qū)（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5）
	計(jì)算、顯示不同區(qū)域光譜（熒光、反射）^*1
	顯示分離圖像（熒光、反射）^*1

*1: 計(jì)算系統(tǒng)是國(guó)立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強(qiáng)副教授共同研究的成果

規(guī)格

規(guī)格
項(xiàng)目	內(nèi)容
照射波長(zhǎng)	360 nm ～700 nm
相機(jī)	彩色（RGB）CMOS傳感器
接口	USB3.0
有效像素?cái)?shù)	1920 × 1200（H×V）
可拍攝波長(zhǎng)范圍	380 nm ～700 nm