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掃描狹縫光束輪廓分析儀

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掃描狹縫輪廓分析系統提供高分辨率,但是要求光束小于1µm且價格要高于相機型光束分析儀 !品牌:Dataray型號:掃描狹縫光束輪廓分析儀

詳細信息 在線詢價

廠家介紹:

美國 DataRay 公司成立于1988年,專業提供激光光束分析儀器,對激光光束的光斑大小,形狀和能量分布等參數進行全面的測試和分析;可提供2D或3D的顯示,并對分析的結果進行打印輸出。適合各種各樣的激光光束,幫助你對你的激光光束的品質提供一個量化的結果。

 

應用領域:

  • 通信:光纜加工/熔接、研發

  • 材料加工:焊接、蝕刻、切割

  • 消費設備:光學鼠標

  • 天文

  • 激光制造與品控

  • 光譜學

  • 3D掃描

  • 粒子檢測

  • LED:室內照明、車頭燈

  • LIDAR:AR、VR

  • 生物醫學:眼科手術、激光手術、內部跟蹤

 

掃描狹縫光束輪廓分析儀

掃描狹縫輪廓分析系統提供高分辨率,但是要求光束小于1µm且價格要高于相機型光束分析儀。盡管不能給出光束圖像,但是在很多情況下XY或XYZθΦ輪廓就可以滿足應用要求。

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型號

BeamScopeTM-P8

Beam’RTM2

BeamMapTM2

Profiling or Imaging

精密12bit profiling

主要特點

多功能XY探頭

2D+M2選項

精密XY

XYZθΦ Focusing, Pointing, Divergence, Collimation, M2

連續波或脈沖

CW. Pulsed >5 kHz, high duty cycle

CW, Pulsed MinPRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)] kHz

波長范圍

Si:    190-1150nm

Ge:   800-1800nm

InAs: 1.5-3.9μm

Si:               190-1150nm

InGaAs:          650-1800nm

Si+ InGaAs:       800-1800nm

Si+ InGaAs, ext:   190-2500nm

Profiles: Line、X、XY

Yes

XYZ profiles + θΦ

NA

Yes

超高分辨率

2.0μm

0.1μm

超小光束

100μm

2μm

M2測量

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes-real-time

Locate Focus

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes

Pointing/Divergence

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

Yes

準直

Yes-with M2DU-BSB

Yes-with M2DU-BR

ColliMateTM head

開關增益

42.5dB

32dB

 

 

 

 


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