進口樣品臺及存儲盒 SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡。截面單夾片便于固定樣品到樣品臺側面，來觀察樣品截面。適用于Zeiss，FEI和Tescan等掃描電鏡，材質為鋁材質。各類樣品臺存儲盒

進口樣品臺及存儲盒

型號 ：AGG301 直徑12.5mm釘形樣品臺  

SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑為12.5mm，腿長8mm。材質為鋁，包裝為100個/包。此外還有直徑為25mm和32mm的樣品臺。

型號：AGG399 銅制直徑12.5mm釘形樣品臺 

 SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑為25mm，腿長8mm，單個裝。材質有鋁材質和銅材質。此外還有直徑為12.5mm和32mm的樣品臺。

型號：AGG3385 JEOL圓柱形樣品臺直徑12.5mm，高度5mm，50個/包

SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL日本電子掃描電鏡，此樣品臺直徑為12.5mm，高度為5mm，材質為鋁材質，50個/包。

型號：AGG3376 JEOL日本電子圓柱形樣品臺直徑32mm，高5mm

 SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL 日本電子掃描電鏡，樣品臺直徑為32mm，高度5mm，材質為鋁材質，單個裝。

型號：AGG3165  雙90°截面，φ25mm釘形樣品臺

此為雙90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，樣品臺直徑為25mm，腿長9.5mm。適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡，同時也適用于飛納Phenom臺式電鏡，材質為鋁。

截面樣品臺比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺上觀察，可免于頻繁傾轉樣品臺，防止樣品在傾轉過程中掉落。

 型號：OINACM50 JEOL直徑50mm樣品臺,可放8個12.5mm釘臺

適用于日本電子電鏡，樣品臺直徑50mm，可放置8個標準釘形樣品臺，一次性可多放8個樣品到樣品倉進行觀察，提高工作效率

型號：AGG3387 JEOL日本電子圓柱形樣品臺直徑50mm，高度10mm

 SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL日本電子掃描電鏡，樣品臺直徑為50mm，高度10mm，材質為鋁材質，單個裝。

型號：AGG3313 Hitachi M4樣品臺

直徑15mm，高度6mm、直徑25mm、直徑32mm

SEM掃描電鏡M4樣品臺適用于Hitachi 日立掃描電鏡，樣品臺直徑為15mm，高度為6mm，材質為鋁材質。 此外還有直徑25mm和32mm樣品臺可選。

 型號：AGG3423 Hitachi 高純碳M4樣品臺直徑15mm,高度6mm

型號：AGG3659  M4螺紋樣品臺轉釘型樣品臺轉換臺

此轉換臺適用于Hitachi日立掃描電鏡，底座為15mm直徑帶M4螺紋樣品臺，上面可固定釘形樣品臺，釘臺直徑可從12.5mm直徑到25mm直徑。材質為鋁材質，單個裝。

Hitachi樣品臺樣品臺管 

SEM掃描電鏡樣品臺管可將釘形樣品臺固定于底部，更安全、方便地保存或轉移樣品。樣品臺管有可存儲Hitachi M4樣品臺，大直徑可到38mm，每包10個裝。

SEM-TEM載網樣品臺

SEM-TEM載網樣品臺為SEM掃描電鏡釘形樣品臺，可放置TEM銅網，對于特定的SEM/EDS應用中，需要將粉末樣品分散于銅網上進行觀察。此釘形樣品臺上可安全地放置4個銅網。適用于Zeiss,FEI和TESCAN掃描電鏡，材質為鋁材質。

型號：AGG3392 可夾持觀察樣品截面樣品臺

此帶夾持樣品臺可用于夾持固定樣品側面，方便SEM中觀察樣品截面，也可用來夾持處于脫水處理中的生物組織樣品，進行SEM等觀察。適用于任何標準的樣品臺，材質為鋁材質

型號：AG15370-1 FESEM T-base樣品臺  

日立S-4800、SU-70、SU6600和SU8000系列FESEM的新型模塊化T-Base適配器。由真空級鋁制成，與氣閘機械手和鎖桿對應。如果SEM級行程允許，可與任何模塊化SEM試樣夾持器一起使用。包括M4螺釘。

型號：AGG3033-12 單夾片可觀察截面釘形樣品臺直徑12.5mm

此釘形樣品臺為90°截面，單面帶一個夾片，樣品臺直徑為12.5mm，單夾片便于固定樣品到樣品臺側面，來觀察樣品截面。適用于Zeiss，FEI和Tescan等掃描電鏡，材質為鋁材質

型號：AGG3035-25 雙夾片45°/90°截面可觀察截面釘形樣品臺

此釘形樣品臺為45°/90°截面，雙面各帶一個夾片，樣品臺直徑為25mm，45°及90°截面的夾片分別適用于固定不同樣品或樣品的不同截面，可同時放置兩個樣品，樣品臺直徑為25mm。適用于Zeiss，FEI和Tescan等掃描電鏡，材質為鋁材質。

型號：AGG3162  45/90°截面，φ12.5mm釘形樣品臺 

 此為45/90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，樣品臺直徑為12.5mm，腿長9.5mm。適用于Zeiss，FEI和TESCAN掃描電鏡，同時也適用于飛納Phenom臺式電鏡，材質為鋁。截面樣品臺比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺上觀察，可免于頻繁傾轉樣品臺，防止樣品在傾轉過程中掉落。

帶夾片可固定釘形樣品臺帶一個夾子

此款SEM掃描電鏡釘形帶夾片樣品臺適用于ZEISS,FEI及TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑有25mm，可帶夾片1個，2個及3個，夾片可用于固定所需觀察的樣品，避免或減少測試中出現漂移，材質為鋁材質。

型號：AGG301F Zeiss短款直徑12.5mm釘形樣品臺  

 此為短款SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss掃描電鏡中7mm厚度的樣品座，樣品臺直徑為12.5mm，腿長6mm。材質為鋁，包裝為100個/包。

型號：51-1120-408 TKD（t-EBSD）樣品臺EBSD樣品臺

 透射菊池衍射（TKD），是一種基于SEM，應用傳統EBSD硬件對電子透明樣品進行研究的新方法。已經證明，該方法可使空間分辨率優于10nm。TKD技術是納米結構和大變形樣品EBSD表征的理想技術。此TKD樣品臺為t-EBSD樣品臺。

型號：51-1120-109 70度EBSD預傾樣品臺21mm長度

70度預傾EBSD樣品臺，規格：直徑12mm，高度（不含釘腿長度）21mm，頭部可固定一個的釘形樣品臺（51-1120-465）。

型號：51-H5-550 70度預傾可調高度EBSD樣品臺（1個裝）

70度預傾可調高度EBSD樣品臺，直徑13.8mm，高度從21mm到63.5mm可調 ，頭部可固定一個釘形樣品臺。EBSD通用型樣品臺，高度可自由調節，以適用于多種掃描電鏡型號。

冷凍電鏡載網樣品盤 單個裝、7個裝  

此冷凍電鏡樣品盤用于: 低溫下，安全保存或轉移已制備的冷凍電鏡樣品

每個圓盤內有12個位置，可放置12個帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒，或24個不帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒；

每個圓盤上皆有數字標識位置，易于檢索及定位樣品；

每個圓盤都設計有*的雙耳空間，方便鑷子夾取樣品，避免劃傷樣品表面；

基礎工具包內有整套圓盤及*工具；

冷凍TEM電鏡載網樣品盒

此冷凍電鏡樣品盒用于儲存低溫玻璃化狀態的冷凍TEM電鏡樣品。適用于儲存和轉移通過冷凍裝置如FEI Vitrobot，Gatan 626, Gatan CT3500，以及其他低溫玻璃化系統制備的冷凍電鏡樣品。

 樣品盒有兩個型號，每個都有4個存儲位，可存儲TEM載網。圓形冷凍樣品盒適合FEI Vitrobo 和Gatan 626，分為帶保護蓋及不帶保護蓋兩種，所帶的保護蓋為透明的可旋轉型保護蓋，或者為釘形保護蓋。方形冷凍樣品盒帶一個透明的可旋轉型保護蓋，適合Gatan CT3500冷凍轉移支架。樣品盒帶有的透明保護蓋可通過5/40型號不銹鋼螺絲固定在中心位置。

SEM掃描電鏡樣品臺管，釘形樣品臺盒

SEM掃描電鏡樣品臺管可將釘形樣品臺固定于底部，更安全、方便地保存或轉移樣品。樣品臺管有可存儲12.5mm直徑釘形樣品臺和存儲Hitachi M4樣品臺兩種規格

樣品臺存儲盒可裝14個釘形樣品臺

 SEM掃描電鏡樣品臺存儲盒有3個規格可選，可存儲14枚直徑為12.5mm的釘形樣品臺（ZEISS/FEI/TESCAN），也可存儲12枚直徑為10mm和15mm的圓柱形樣品臺（JEOL），還可存儲14枚直徑為15mm的Hitachi日立M4樣品臺。樣品盒尺寸為121×77×34mm。

型號AGG3319：高彈膜盒樣品盒12個/包（35mm*35mm*18mm）

此高彈膜盒頂部和底部都附有一層Platilon薄膜，此薄膜是具有高彈性、有化學惰性的薄膜，可固定并保護樣品。適用于存放各種精密、易碎的樣品。存儲盒為透明盒子，可不用打開盒子對樣品進行檢查，避免了物體暴露在灰塵或其他環境中。

標簽：進口樣品臺及存儲盒