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NMIS 美國Rtec微納米劃痕/壓痕儀

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Rtec壓痕和劃痕測試儀,配備6容易互換的機械頭,高倍率顯微鏡和成像模塊(AFM和3維形貌儀)。
請求專家測試,目睹和了解更多信息

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Rtec壓痕和劃痕測試儀,配備6容易互換的機械頭,高倍率顯微鏡和成像模塊(AFM3維形貌儀)。
請求專家測試,目睹和了解更多信息

6種機械頭
•壓痕頭 - 用于測量硬度,薄膜、超薄涂層和疏松材料的彈性模量。
•納米劃痕頭 - 通常使用的納米厚度的薄膜和超薄涂層(DLCALD,太陽能薄膜(ITO),光學鍍膜等)
•微壓痕頭 -用來測量硬度,薄膜、涂層和塊體材料的楊氏模量
•微劃痕頭 - 通常為微米級厚度的涂層(PVDCVD,涂料,裝飾涂料等)
•宏刮頭 - 通常用于厚的涂層和塊體材料
•微米/納米摩擦學頭 - 用于測量磨損,靜態和動態摩擦,壽命,附著力,粘滑,等(薄膜和厚膜/涂層和塊體材料)
 
特點和亮點
該平臺配有防振臺,隔聲隔熱外罩,以確保環境的穩定
3板式電容傳感器實現超高精度的位移測量
•用戶自定義的分析算法或模型來計算材料的性能
ASTMDINISO標準
 
 
 


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