EyeTech概念

雙測量通道的選擇
采用*的激光光阻法進行快速準確的粒徑檢測
采用復雜的動態圖像分析法精確的分析非球形顆粒
測量結果直接且僅取決于顆粒大小
測量結果不受顆粒或介質的物理和光學性質影響

技術參數：
激光和圖像通道的結合

獨*的結合了激光光阻法和復雜的動態粒形分析技術
對球形、非球形及延長顆粒的精確分析定性
可同時測量粒徑、形狀和濃度
多種模塊配置可滿足不

EyeTech概念

雙測量通道的選擇 
采用*的激光光阻法進行快速準確的粒徑檢測 
采用復雜的動態圖像分析法精確的分析非球形顆粒 
測量結果直接且僅取決于顆粒大小 
測量結果不受顆粒或介質的物理和光學性質影響

技術參數：
激光和圖像通道的結合

獨*的結合了激光光阻法和復雜的動態粒形分析技術 
對球形、非球形及延長顆粒的精確分析定性 
可同時測量粒徑、形狀和濃度 
多種模塊配置可滿足不同類型的干法及濕法檢測需求 
測量過程中可實時觀察樣品顆粒 


主要特點：
EyeTech系列特點：

粒度范圍：0.1-3600微米 
能分析粒度，粒形 與 濃度 
測量結果直接與顆粒大小相關，而不是二級推算出來 
能分析非球狀顆粒的形狀 
無需了解樣品的折射指數 
能分析透明的樣品 
免校正