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PN-12α 日本napson熱電動勢接觸式PN探測器

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日本napson熱電動勢接觸式PN探測器
樣品的導電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來確定
兼容單晶硅晶片，塊和錠
對于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。

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日本napson熱電動勢接觸式PN探測器

 

熱電動勢接觸式PN探測器

產品名稱：PN-12α

產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）

  • PN判斷
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產品特點

樣品的導電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來確定

兼容單晶硅晶片，塊和錠

*對于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。

測量規格

測量對象

與半導體/太陽能電池材料有關（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

30x30mm以上

測量范圍

可用于PN測定的樣品電阻率范圍：1 m至20kΩ·cm 
*不能部分確定多晶硅，帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態或被氧化的樣品

熱電動勢接觸式PN探測器

產品名稱：PN-12α

產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）

  • PN判斷
  • PN判斷
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產品特點

樣品的導電類型（PN）通過將其與筆型探頭（熱/冷探頭集成型）接觸來確定

兼容單晶硅晶片，塊和錠

*對于難以使用集成探頭判斷的樣品，您還可以選擇熱/冷探頭/分離類型。

測量規格

測量對象

與半導體/太陽能電池材料有關（硅，多晶硅，SiC等）

測量尺寸

30x30mm以上

測量范圍

可用于PN測定的樣品電阻率范圍：1 m至20kΩ·cm 
*不能部分確定多晶硅，帶有膜的晶片以及表面呈鏡面狀態或被氧化的樣品

日本napson熱電動勢接觸式PN探測器

深圳市秋山貿易有限公司

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