基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像、熒光強度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像

　　新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng)，提供單分子級的靈敏度，檢測波長標準配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms；用于化學、納米、能源、生物等學科方向，單分子動態(tài)、活細胞、微區(qū)成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究，測試速度高達5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī)，批量熒光壽命成像數(shù)據(jù)處理進入直讀時代；振鏡掃描適于所有時間尺度的壽命成像。活細胞工作站、變溫測試可選用；

主要功能描述：

激光共焦熒光強度成像LCM；

熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；

上轉(zhuǎn)換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；

熒光波動成像FFS（FCS，F(xiàn)CCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），F(xiàn)LIM-FRET成像；

單量子點發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像，包括交替激發(fā)PIE成像；

穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；

微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像；

反聚束測試；

　　Prof. Joseph R. Lakowicz 實驗室選擇的FLIM系統(tǒng)

　　數(shù)字頻域技術DFD-FLIM （FastFLIM）和時域技術TD-FLIM （TCSPC）成像技術；

　　實時直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢，F(xiàn)RET效率分布；

　　選擇300-1600nm波長范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，F(xiàn)LIM-FRET；

　　可以升級無波長干擾AFM，實現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試；

紫外-可見-紅外激發(fā)波長，單波長或超連續(xù)激光器；266nm-1300nm激光器可選；PIE功能可選；白光激光器可選用；

　　單光子或雙光子的激光器；