智能卡動態雙彎扭檢測儀產品用途：

用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

HY（IC）智能卡動態雙彎扭檢測儀

衡翼儀器I智能卡動態雙彎扭檢測儀專業服務國網電網客戶，為企業客戶及國內外研究單位提供定制化研發服務，衡翼更專業，更值得信賴。

全新升級版卡片彎曲扭曲測試儀由衡翼儀器研制成功，該測試儀工位為15工位，其中5工位為長邊彎曲，5工位為短邊彎曲，5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次，計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數)，將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。

智能卡動態雙彎扭檢測儀配置：

1）常用調試工具一套：

2）STK交流調速電機系統一套；

3）高精度齒輪減速系統一套；

4）高精度光電計數器一套

4）高精度計數系統一套；

智能卡動態雙彎扭檢測儀產品用途：

 用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。