JEOL DART-TM 質譜儀直測試分析配件/質譜部件及外設，一般質譜離子化分別有大氣下離子化及真空下離子化, 質譜儀的前處理通常較為麻煩與困難。DART技術將前處理變得更直接容易，可直接將式樣拿來分析。液體，固體，與粉末都可直接分析在大氣下離子化。結合Accu TOF （高解析飛行質譜儀） 可得到精確數據。

JEOL DART-TM 質譜儀直測試分析配件/質譜部件及外設

一般質譜離子化分別有大氣下離子化及真空下離子化, 質譜儀的前處理通常較為麻煩與困難。

DART技術將前處理變得更直接容易，可直接將式樣拿來分析。液體，固體，與粉末都可直接分析在大氣下離子化。結合Accu TOF (高解析飛行質譜儀) 可得到精確數據

DART的限制:

1. 主要測試小分子，不適合用在大分子 (ex: DNA去氧核醣核酸, Protein蛋白質)

2. 無法離子化金屬

優點: TOF+DART

1. 非接觸樣品分析, 直接放在DART分析

2. 需要少樣品測試

3. 可以取代ESI，APCI等離子源

4. 高解析度

5. 寬廣分子量范圍分析

6. 同位素容易分析

7. 分析非常快速

8. 對於難處理或復雜樣品很適合
9. 可以串聯TLC/MS，LC/MS
10. 大氣下可以分析氣體，固體，液體
11. 不需溶劑及高壓氣體
12. 可迅速分析定性及定量

JEOL DART-TM 質譜儀直測試分析配件/質譜部件及外設應用領域

藥物 (西藥，草藥，偽藥)

爆裂物

晶圓上化學品殘留

代謝物

食物及飲料

農藥

有毒工業原物

高分子，包裝材，塑化劑，染料，揮發物，熱解材料

有機合成物，有機金屬。

應用領域：