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∑IGMA 掃描電子顯微鏡 場發射電子顯微鏡∑IGMA 德國.蔡司

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詳細描述:

 

品牌:卡爾·蔡司

型號:∑IGMA

 

制造商:德國卡爾蔡司公司

 

【品牌故事】

      世界*光學品牌,可見光及電子光學的----德國蔡司公司始創于1846年。其電子光學前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋),積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗,ZEISS電子束技術在世界上創造了數個*:

 

  *臺靜電式透射電鏡(1949)

  *臺商業化掃描電鏡(1965)

  *臺數字化掃描電鏡(1985)

  *臺場發射掃描電鏡(1990)

  *臺帶有成像濾波器的透射電鏡(1992)

  *臺具有Koehler照明的200kV場發射透射電鏡(2003)

  *臺具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場發射透射電鏡(2003)

 

       CARL ZEISS以其前瞻性**的設計融合歐洲*制造工藝造就了該品牌在光電子領域無可撼動的*地位。自成立至今,一直延續不斷創新的傳統,公司擁有電鏡制造zui核心的專有技術,隨著離子束技術和基于電子束的分析技術的加入、是*為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業。其產品的高性能、高質量、高可靠性和穩定性已得到*廣大用戶的信賴與認可。作為電鏡標準*的CARL ZEISS將一路*電鏡市場為您開創探求納米科技的嶄新紀元。

 

【總體描述】

      采用*的第三代GEMINI鏡筒的∑IGMA場發射電子顯微鏡在處理所有材料方面有杰出表現。GEMINI鏡筒因其操作簡單,極低壓成像和超穩定探測電流等優勢得到廣大用戶的認可,同時可提供高分辨率的能譜分析和波譜分析.                  

      IGMA可處理直徑達250mm和高為145mm的試樣,此外,理想的共面設計使得能譜分析(EDS)和背散射電子分析(EBSD)同時使用。

 

【技術參數】

  分辨率:1.3nm@ 20KV   1.5nm@ 15KV     2.8nm@ 1KV  

  放大倍數:121,000,000x  

  加速電壓:0.1-30KV  

  探針電流:4 pA - 20 nA (4pA-40nA可選

  樣品室:330 mm (φ) x 270 mm (h)  

  樣品臺:5軸優中心全自動

                   X = 125 mm  

                   Y = 125 mm  

                   Z = 50mm

                   T = 0 - 90°  

                   R = 360°連續旋轉  

  系統控制:基于Windows XPSmartSEM操作系統,可選鼠標、鍵盤、控制面板控制

 

【產品應用】      

      掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料鋼鐵、冶金、有色、機械加工和非金屬材料化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。


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