| 參考價 | ￥ 9000 |
| 訂貨量 | ≥1 件 |
VUVaS2000真空極紫外光譜儀
VUVaS 2000 雙光束真空紫外光譜儀是McPherson 公司推出的檢測不同種類的材料在真空紫外波段（115-380nm 波長范圍）的吸收譜、透射譜和反射譜的檢測儀器。可以根據用戶的要求定制不同規格的樣品室和樣品架，測量不同大小、不同厚度的樣品，并可進一步選擇偏振和熒光發射測量，為不同材料在真空紫外波段的研究與應用提供的測試手段。
VUVaS2000真空極紫外光譜儀
VUVaS2000真空極紫外光譜儀是McPherson 公司推出的檢測不同種類的材料在真空紫外波段（115-380nm 波長范圍)的吸收譜、透射譜和反射譜的檢測儀器。可以根據用戶的要求定制不同規格的樣品室和樣品架，測量不同大小、不同厚度的樣品，并可進一步選擇偏振和熒光發射測量，為不同材料在真空紫外波段的研究與應用提供的測試手段。
由于VUVaS 2000 型真空紫外光譜儀采用的是真空斬波和鎖相放大技術從而*地提高了信號檢測的靈敏度和信躁比，是目前在這個波段開展上述弱信號測量的儀器產品。
特點:
·校準紫外光譜儀設計
·真空可以工作
·覆蓋115~380nm
·樣品可調整
·探測器角度可調
·傳輸路徑，反射率和散射測量
·可選擇—大面積樣品掃描圖
·可選擇—低溫樣品加載
·可選擇—連接偏光鏡
·可選擇—紫外熒光發射附屬設備
【參數表】
1. 光學特征
光度精確度 | （157nm處）≤0.05%T(RSD) |
光度準確度 | (115nm-380nm) ≤0.3%T(RSD) 標準0.2%T（RSD） |
光學穩定性 | 0.5%T/小時 |
光學噪聲 | 優于0.17%T |
2．光譜特征
波長范圍 | 氘燈連續光源提供波長115nm-380nm |
單色儀 | McPherson公司改進的Seya-Namioka Model 234/302單色儀 |
光柵 | III型鍍MgF2 的凹面全息光柵，1200刻線/毫米 |
相對孔徑 | f/4.5 |
波長準確度 | 0.1nm |
波長重復性 | ±0.03nm |
分辨率 | 0.01mm狹縫分辨率為0.1nm |
帶通 | 帶通寬度隨狹縫寬度改變從0.1nm-10nm可調 |
3．樣品測量
光束 | 校準/可變 |
斬波器 | 反射型斬波器（標準工作頻率為90Hz） |
探測器 | R268型光電倍增管 |
測量方式 | 透射譜（吸收譜）、反射譜、散射譜、激發譜 |
探測器位置 | 相對于發射光束成20°-180°角 |
樣品位置 | 相對于發射光束成0°-90°角 |
樣品架尺寸 | 可容納1英寸直徑或2x2英寸或2英寸直徑的樣品（根據要求訂制） |
濾光片 | 5個可放25mm直徑濾光片的位置 |
配件 | 225nm長通濾光片用于230nm-380nm的光譜范圍 |
4.真空系統
真空泵 | 兩個渦輪分子泵，閘式閥門控制凈化樣品區域 |
真空范圍 | 典型工作壓力為10-5torr,樣品區可被單獨凈化 |
5．控制系統
控制器 | LabView windows軟件用于波長控制和信號恢復，圖形式/數字式輸出反射譜及透射譜信號 |
輸入電壓 | 220 V / 15 A / 50 Hz |
工作環境 | 一般實驗室環境 |
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