SPECEI-2000是一款應用橢圓偏光原理的臺式薄膜測量系統，適用于平面多層膜厚測量，如晶片、玻璃片等。分光橢偏儀可以測量光的多層反射，除了強度之外，也可以測量相對的相位和振幅變化，利用這種技術可以同時對多種參數進行測量。

和常規橢偏儀相比，SPECEI-2000橢偏儀要便宜一半左右，并且還具有以下特點，系統集成了光源、導光器件，可旋轉的偏光鏡、樣品臺、CCD陣列光譜儀等器件，其光源入射角設定在70°，但用戶可根據需要設定為65到75°，整套儀器想當小巧，尺寸僅為52cm*33cm*24cm。

SPECEI-2000橢偏儀的特點：

膜厚準確度在1nm，精度在0.1nm
可測量多達25層膜厚
每層膜厚可從0.1nm至8um，450-900nm的光譜范圍
光斑大小為2mm*4mm，光學分辨率為200um*400um
適合于平面半透明的材料測量，如晶片、玻璃、薄膜和金屬箔等
可選項包括2D位移功能，標準晶片等
附帶的軟件可以非常容易地存儲和載入不同的測量組合模式

SPECEI-2000橢偏儀的技術指標：