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橢偏儀

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激光橢圓偏振測厚儀（ELLIP-EY）適用于高校教學和工業薄膜測試為一款普及型的測試儀器。

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激光橢圓偏振測厚儀（ELLIP-EY）

適用于高校教學和工業薄膜測試為一款普及型的測試儀器。
 
產品技術參數：
波長 650nm
光源 半導體激光器
固定入射角 70度
測量模式 反射
測量方式 自動完成信號測量
實測光學常數種類復折射率 復介電常數 吸收系數 反射率
膜厚精度 ±1nm
系統定標方式自洽、定標
 
產品用途：
1.各種功能材料的光學常數測量和光譜學特性分析；
2.測量薄膜材料的折射率和厚度；
測量對象包括：金屬、半導體、超導體、絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料；測量光學常數：復折射率的實虛部、復介電常數的實虛部、吸收系數a、反射率R.


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