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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng) 上海匯分電子科技有限公司
品牌
型號(hào) 納米粒度、ZetasizerNanoZS
所在地 上海市
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2015/12/1 9:00:00
訪問(wèn)次數(shù) 1406

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴(lài)。

納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀Zetasizer Nano 系列
代表當(dāng)今水平的馬爾文新一代Zetasizer系列納米粒和Zeta電位及分子量分析儀, 應(yīng)用光散射原理, 功能強(qiáng)大, 能夠簡(jiǎn)單快捷的表征納米顆粒, 膠體和蛋白質(zhì)的物理特性，被廣泛用于納米材料及生命科學(xué)和藥物等諸多領(lǐng)域，成為科學(xué)研究及質(zhì)量控制*的zui有效的分析系統(tǒng)。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

納米粒度、Zeta電位和分子量分析儀Zetasizer Nano 系列

創(chuàng)新點(diǎn):新一代Zetasizer系列經(jīng)過(guò)全面技術(shù)革新與系統(tǒng)優(yōu)化,在光路傳輸系統(tǒng),信號(hào)處理技術(shù)和軟件設(shè)計(jì)上應(yīng)用了突破性的創(chuàng)新科技,融合了新一代PALS+M3,NIBS背散射及折疊式毛細(xì)管樣品池設(shè)計(jì)等多項(xiàng)技術(shù),使其靈敏度,穩(wěn)定性和檢測(cè)范圍等有了革命性的提高,各種重要測(cè)量指標(biāo)表現(xiàn)亦達(dá)到了的高度（指標(biāo)詳見(jiàn)儀器介紹）.

代表當(dāng)今水平的馬爾文新一代Zetasizer系列納米粒和Zeta電位及分子量分析儀, 應(yīng)用光散射原理, 功能強(qiáng)大, 能夠簡(jiǎn)單快捷的表征納米顆粒, 膠體和蛋白質(zhì)的物理特性，被廣泛用于納米材料及生命科學(xué)和藥物等諸多領(lǐng)域，成為科學(xué)研究及質(zhì)量控制*的zui有效的分析系統(tǒng)。

詳細(xì)信息

Zetasizer Nano ZS 儀器簡(jiǎn)介：

新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學(xué)專(zhuān)家提供綜合測(cè)量三項(xiàng)zui重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。
這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無(wú)比的靈敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對(duì)粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進(jìn)行測(cè)量。

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進(jìn)行精確的測(cè)量。

分子量 - 雪崩光電二極管檢測(cè)器和光纖檢測(cè)光學(xué)裝置提供測(cè)量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。

Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號(hào)
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的*，能夠測(cè)量所有三項(xiàng)參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動(dòng)滴定儀連接使用，實(shí)現(xiàn)趨勢(shì)測(cè)量和樣品制備的自動(dòng)化。

Zetasizer Nano ZS 技術(shù)參數(shù)：

粒徑測(cè)量
zui大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v *
檢測(cè)角度: 175º 和 12.8º
zui小樣品量: 12 μl

Zeta電位測(cè)量
Zeta電位范圍: 無(wú)實(shí)際限制
電泳遷移率: 0 – 無(wú)實(shí)際上限
zui大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
zui大樣品濃度: 40% w/v
zui小樣品量: 150 μl
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

分子量測(cè)量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * （動(dòng)態(tài)光散射）
980 - 2 ×10⁷Da * （靜態(tài)光散射）
zui小樣品量 12 μl

* 取決于樣品

Zetasizer Nano ZS 主要特點(diǎn)：

新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀
持續(xù)革新與優(yōu)化樹(shù)立納米分析新*

融合多項(xiàng)技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限
? 粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm
? 濃度范圍廣: 0.1ppm—40%（w/v）
? 測(cè)量分子量
? 高分辨率高靈敏度Zeta電位測(cè)量
zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測(cè)高濃度樣品zui高至40%（依賴(lài)于樣品）的極限能力

多項(xiàng)技術(shù)
? 馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有zui高靈敏性
? 馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將*的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測(cè)散射光的相位變化
? 馬爾文的毛細(xì)管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強(qiáng)大多功能系統(tǒng)
? **的APD檢測(cè)器,靈敏度無(wú)出其右
? 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
? 標(biāo)準(zhǔn)配置研究級(jí)高速數(shù)字相關(guān)器
? 175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測(cè)量模式,洞悉體系中的締合物含量