“ 美國ISS——*的同時提供時域TCSPC和數字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術解決方案！

簡介︰

“ 美國ISS——*的同時提供時域TCSPC和數字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術解決方案！”市場上熒光壽命的測量方式可分為時域法和頻域法，兩者在本質上是相通的，測量精度相近，頻域技術是時域法的傅里葉變換的延伸。時域和頻域技術在各種顯微壽命成像平臺中都有應用，時間相關單光子計數方法（TCSPC )是為常見的時域技術，而新興的數字頻域技術（FastFLIM™ )則取代了傳統的模擬頻域技術，憑借其獨恃的優勢成為應用廣的頻域技術。

產品概述和特點

FastFLIM基本原理

利用脈沖光源代替調制光源對樣品進行激發；發射光子通過光子計數檢測器接收，不對檢測器進行調制，而是通過FastFLIM對接收的光子信號進行數字轉換并記錄到代表不同相位的采樣窗口，其采樣頻率fs由FastFLIM根據激發頻率fex而生成，兩者的差值稱為互相關頻率fcc，其倒數（1/fcc）正是相位采樣的時間窗口；通過對接收光子的累積而生成相位直方圖（cross correlation phase histogram）；通過對相位直方圖的數字傅里葉變換處理可以得到在激光重復頻率及多個倍頻下的相位延遲（φ）和振幅解調（m），用于單指數或多指數的熒光壽命分析。

FastFLIM的*優勢

Ø高效快速的數據采集模式（* duty cycle）,幾乎無死亡時間;

Ø光子計數動態范圍大，線性度高，數據采集率可達每秒計數6x107；

Ø提供四個數據輸入通道，同時對四個檢測器進行并行數據采集； 

Ø靈活度高，應用范圍廣，100ps到100ms的無間斷壽命測量；

Ø可接入多種模式觸發信號與脈沖激光或其它測量設備同步；