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復合熒光材料的量子產率分布測量

來源:日立分析儀器(上海)有限公司   2020年08月11日 13:49  
  1. 引言
 
  量子產率是評價熒光材料發光效率的重要參數,復合熒光材料通常由兩種或兩種以上的材料組成,依據樣品的量子產率分布可以確認每種成分的發光效率,助力于樣品的精細化分析。
 
  日立熒光分布成像系統能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息,從而實現精細化測量,此次實驗測定了復合熒光材料的量子產率分布。
 
  2. 應用數據
 
  2.1 附件介紹
 
  熒光分布成像系統是熒光分光光度計的新附件,包含軟件和硬件兩部分。入射光通過附件中的積分球均勻照射到樣品,通過熒光分光光度計的檢測器獲取熒光光譜,利用積分球下方的CMOS相機同時獲取樣品熒光和反射圖像。
 
圖1 熒光分布成像系統安裝示例
 
  利用樣品的反射圖像計算出吸收量,利用熒光圖像計算出熒光量,從而計算得到量子產率分布圖像。
 
2.2 實驗部分
 
  實驗材料
 
  樣品:復合熒光材料
 
  測量設備:日立F-7100,熒光分布成像系統
 
  結果與分析
 
  使用日立F-7100測定樣品的三維熒光光譜,通過熒光分布成像系統的分析軟件對樣品三維熒光光譜進行平行因子分析(PARAFAC),得到兩種成分。
 
  通過熒光分布成像系統中的智能光譜算法,可以將拍攝的樣品圖像分離為反射成分圖像和熒光成分圖像。
 
  在熒光分布成像系統軟件中,可以將不同激發波長下樣品的圖像信息保存為如下縮略圖,直接用于文檔中。
 
  對獲得的樣品熒光圖像和反射圖像進行分區,如下圖將樣品測量區域分成5x5的格子,選取不同的格子,坐標系中便顯示對應的光譜。圖中選取的兩個位置分別對應平行因子分離出的成分1和成分2。
 
  基于以上樣品的熒光圖像和反射圖像,軟件自動計算出對應的量子產率分布圖像,如下圖,通過點擊圖像中不同的區域,可以獲得對應的量子產率曲線。
 
  因此使用熒光分布成像系統將樣品在不同激發波長下的拍攝圖像分離為反射圖像和熒光圖像,可以計算出影響熒光材料發光效率的量子產率分布圖,樣品中黃色區域的量子產率約60%,紅色區域的量子產率約35%。
 
  3. 總結
 
  熒光分布成像系統是日立的全新技術,與日立超高掃描速度的熒光分光光度計聯用,助力客戶實現更精細化的熒光分析。

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