特點

激光反射式檢測工作模式

輕敲式軟樣品成像能力，生物大分子及粉體納米材料檢測，超高分辨率

輕敲模式、相位模式

AFM接觸式形貌測量，原子力曲線采集顯示

STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測量功能

特殊設計液體池，具備液體中輕敲式AFM成像能力

深度陡度測量，三維顯示

納米材料粗糙度測量，顆粒粒徑度量及分布統計

實時觀測比照的形貌圖、摩擦力圖、相位圖、靜電力圖、磁力圖

實時多通道剖面圖顯示

專為科研和工業應用設計，結構小巧美觀

可選配單分子操縱、局域電性能測量、納米刻蝕和加工功能

DSP全數字化控制，操作簡潔直觀

控制主機可以采用筆記本電腦，適合課堂現場演示

XY二維樣品移動平臺，快速搜索感興趣的樣品區域

步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)

Windows全中文控制軟件，面向對象設計

提供實驗標準光柵、云母和HOPG樣品

組合光學連續變倍顯微鏡，*的雙光路照明，樣品觀測范圍從1nm到20mm

360°*彩色CCD成像系統，方便系統調整，可實時樣品錄像

RS232/USB接口，無需任何計算機卡，安裝簡單迅速

　

技術指標

探頭：

樣品尺寸：≤Φ30mm

樣品厚度：≤15mm

XYzui大掃描范圍：標準配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，

20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm

XY向分辨力：0.4nm(輕敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)

Z向分辨力：0.05nm(輕敲式,DNA定標)，0.03nm(AFM,云母定標)，0.01nm(STM,HOPG定標)

XY二維樣品移動平臺范圍：0~5mm

步進馬達自動進行針尖-樣品逼近(STM自動保護針尖)

僅需更換探針架，即可切換STM、接觸式AFM、輕敲模式

電化學針尖塊，液體池，液體輕敲式AFM成像功能(選配)

44～283X連續變倍彩色CCD觀察顯微系統

全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)

精密隔震平臺(選配)

電子學控制器：

XYZ控制：18-bit D/A

數據采樣：14-bit A/D 、雙16-bit A/D多路同步采樣

Z向反饋：DSP數字反饋

反饋采樣速率：64.0kHz

高壓放大器：集成高壓運算放大器，zui大電壓范圍±170V

正弦波頻率掃描范圍：0~1000000Hz

正弦波幅度范圍：0~10.0V

zui大掃描率：〉40000點/秒

掃描角度：0~360°

掃描偏移：任意

圖像采樣點：256×256或512×512

步進馬達控制：手動和自動進退

計算機接口：RS232/USB口

計算機軟件：

運行于中文Windows 98/2000/XP操作系統，標準視窗工作界面

AFM輕敲模式、相位模式

AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能

STM恒流模式、恒高模式功能(STM)

多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖

智能識別和控制系統狀態、儀器類型、掃描器和探針架參數

DSP全數字控制的參數設置和采集

AFM激光檢測系統的實時調整功能

針尖共振峰自動搜索功能

頻率-RMS（f-RMS）曲線測量功能

RMS-間隙（RMS-Z）曲線測量功能

原子力-間距（F-Z）曲線測量功能(AFM)

電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測量功能(STM)

隧道電流-間隙（I-Z曲線）測量功能(STM)

靜電力成像模式功能（選配）

磁力成像模式功能（選配）

支持步進馬達自動驅進到掃描器中心

支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正

樣品傾斜度線平均、偏置實時校正功能

實時調整本底及比例

定點實時測試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能

鼠標控制掃描區域平移、剪切功能

用戶任意定義調色板功能

圖像獲取文件連續存盤和自定義文件名,當前全部工作環境參數同步保存功能

圖像在線瀏覽，連續圖像獲取文件動態重現，納米電影功能

圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）

完備的在線式智能提示及全程幫助

樣品粒度、粗糙度分析

標準離線分析和處理功能

增加第二顯示器（選配）