●觀察倍率 千~數百萬倍
●可測定高度 5μm ,15μm（選配）
●zui大樣品形狀 Φ24mm × 8mm

• 技術參數

  ●觀察倍率 千~數百萬倍
  ●可測定高度 5μm ,15μm（選配）
  ●zui大樣品形狀 Φ24mm × 8mm
  
   

  • 主要特點
  • 掃描探針顯微鏡可在大氣中簡單的進行高放大倍率的表面觀察，并可直接觀察非導電性樣品，可精確測定樣品表面的高程差。探針*可測定樣品的物理性質。追加可控氣氛分析室可升級為可控氣氛SPM。
  • 儀器介紹
  • 非導電體不需要前處理，在大氣氣氛中 進行高分辨率表面三維圖像觀察。

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• 北京中諾遠東科技有限公司

• ：-8006

• ：劉

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