SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡，使用調頻模式的型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現超高分辨率，而且*觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。

   　SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡

　　SPM-8100FM高分辨原子力顯微鏡觀察生動的納米世界
 

　　使用調頻模式的型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡，不僅可以在空氣及液體環境中實現超高分辨率，而且*觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
 

　　HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
 

　　HR-SPM特點
 

　　使用調頻模式
 

　　空氣和液體中的噪音降低到傳統模式的二十分之一
 

　　在空氣和液體環境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
 

　　現有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調頻模式(frequency modulation) 可以達到更高的分辨率。
 

　　SPM ： 掃描探針顯微鏡
 

　　AFM ： 原子力顯微鏡
 

　　AM ： 調幅模式
 

　　FM ： 調頻模式
 

　　與現有SPM/AFM的區別
 

　　液體環境中原子分辨率觀察
 

　　NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調幅模式的傳統原子力顯微鏡，圖像*被噪音遮蓋(左圖)，但在調頻模式下，原子排列清晰可見(右圖)。調頻模式實現了真正的原子級分辨率。
 

　　空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)
 

KPFM: 掃描開爾文顯微鏡
 

　　TiO2基底上的Pt顆粒， 通過KPFM進行表面電勢的測定，TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識別。同時可以觀察到數納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色區域是正電勢，藍色區域是負電勢。對于PKFM觀察，FM模式也大幅提高了分辨率。
 

　　注: KPFM需要特定的基底。
 

　　引用文獻：

　　Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).