當前位置:儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>光學顯微鏡>工具顯微鏡、測量顯微鏡>15JE 測量顯微鏡 15JE
返回產品中心>15JE測量顯微鏡:直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
15JE測量顯微鏡技術規格:
1、物鏡
放大倍數:2.5X/0.08、 10X/0.25
焦距(mm):43.40、17.13
2、目鏡
放大倍數:10X
焦距(mm):5.00
3、顯微鏡放大倍數:25X、100X
工作距離(mm):58.84、7.81
視場直徑(mm):5.6、1.4
4、測量工作臺讀數裝置主要規格
X——軸移動測量范圍:50mm
Y——軸移動測量范圍:13mm
測微器分度值:0.001mm
測量臺轉動范圍:不限
測量臺刻度盤分度范圍:0?-360?
測量臺刻度盤之分度值:1?
測量臺刻度盤游標讀數示值:6’
5、測量精度:
儀器示值誤差±(5 L/15)微米
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。
注:測量地點溫度變化(20?±3?)C
L——被測件長度(mm)
6、儀器之主要尺寸:
測量臺與物鏡間之zui大距離:80mm
測量工作臺直徑:120mm
儀器外形尺寸:高325*長262*寬220mm
儀器重量約:10.6公斤
7、光源:自然光
15JE測量顯微鏡選購件:
40倍平場物鏡
南方省區上海公司 北方省區北京公司
: 55228660 : 84021761
:http://www.optical-sh。。com/ :http://www.bjsgyq。。com/
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