HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率測定儀/四探針測試儀 型號：HAD-M-2

一、結構特征

    如上圖

二、概述

HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作！

儀器所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示。

三、基本技術參數(shù)

1.測量范圍、分辨率

電   阻：     1.0×10^-2～ 2000Ω,   分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10Ω

電 阻 率：     1.0×10^-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10^-2～ 0.1Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10^-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10^-1～ 0.1×10Ω/□

2.可測半導體材料尺寸

直       徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm,   其他方式不限.

3.量程劃分及誤差等級

4)適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg

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