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簡介：

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簡介：SPM300半導體參數分析儀基于拉曼光譜法的半導體參數測試儀，具有非接觸、無損檢測、特異性高的優點。可以對半導體材料進行微區分析，空間分辨率＜800nm（典型值），也可以對樣品進行掃描從而對整個面...

簡介：半導體參數分析儀SPM600系列是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面，提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑，實現百微米級探測器的...

簡介：SPM900系列少子壽命成像測試儀原理說明非平衡少數載流子少數載流子的壽命是半導體材料的一個重要參數，也是評價半導體質量的一個指標。例如在光伏電池中，少子壽命決定了少子擴散長度，決定了光吸收層、內...