氣溶膠顆粒的差分電遷移率分級與分析方法，已被廣泛用于納米級到微米級的各類氣溶膠顆粒的測量。同時，帶電顆粒的電遷移率分級可獲得粒度可知的單分散顆粒，并用于校準其他儀器。該方法基于簡單的物理原理，已成為氣溶膠技術領域的重要組成部分，如氣溶膠儀器、基于氣溶膠的材料生產、
半導體工業(yè)生產潔凈環(huán)境控制、大氣氣溶膠科學、工程化納米顆粒表征等。
然而，為準確使用電遷移率分級與分析，需充分注意以下問題：滑移修正系數(shù)、附著系數(shù)、粒度相關的氣溶膠顆粒粒度電荷分布，以及將測量的遷移率分布反演為氣溶膠分布粒度方法。因此，有必要建立運用差分電遷移率分析方法對氣溶膠顆粒分級的標準，為顆粒粒度和數(shù)量濃度的測量提供一種恰當?shù)馁|量控制方法。
近日，由江蘇省顆粒學會 、南京威普粉體工程有限公司 、淮陰工學院 、中國計量大學 、南京理工大學 、蘇顆粒科技南京有限公司等單位起草，TC168(全國顆粒表征與分檢及篩網標準化技術委員會)歸口的國家標準計劃《粒度分布的測定 氣溶膠粒子差分電遷移率分析法》征求意見稿已編制完成，現(xiàn)公開征求意見。
本文件提供了通過分析氣溶膠顆粒的電遷移率測定其粒度分布的方法與要求，通常稱為氣溶膠顆粒差分電遷移率分析法，其適用于測量粒度范圍為1nm-1μm的顆粒。同時，該文件中還包括不確定度的計算方法，但不涉及特定儀器設計或有特殊要求的粒度分布測量。
并且該文件不包括在特定標準或指南中定義的差分電遷移率分析系統(tǒng)(DMAS)應用的技術要求和規(guī)范，例如道路車輛應用(ISO/TC 22)、環(huán)境測量(ISO/TC 146)或納米技術(ISO/TC 229)。
系統(tǒng)與設備：
基于差分電遷移率分析法，測量粒度分布的完整DMAS通常具有以下基本組件：預調節(jié)器；荷電調節(jié)器，即顆粒荷電調節(jié)器；具有流量控制和高壓控制的DEMC；氣溶膠顆粒檢測器；具有數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析的系統(tǒng)控制器(通常是計算機的內置固件或專用軟件)。
定期測試和校準：
遵循相關的校準流程，能保障 DMAS 粒度與濃度測量誤差在可控范圍內。該流程只能由專業(yè)人員操作，并應包含零點測試、流量計校準、電壓校準、顆粒荷電調節(jié)器測試、粒度測量校準、粒度精度測試和數(shù)量濃度校準等項目。
在固定電壓下使用 DEMC 生成選定粒度的顆粒：
包括多電荷顆粒避免方法、使用認證球體進行粒度校準、鞘氣流設定、總不確定度的計算等。
浙公網安備 33010602002722號
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