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重力或者離心力使得懸浮在樣品轉盤腔內的顆粒可以產生沉降或離心運動。大顆粒運動較快,小顆粒運動較慢,隨著時間的增加,大小顆粒自然分級并依次通過靠近轉盤腔底內部的檢測器,因而具有*的分辯率。1. 應用價值:1) 精確分辨復雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結構特性的分析;2) 通過測量對原料進行監控,避免由原料帶來的生產問題;3) 通過簡化步驟和減少測量時間來提高效率;4) *化材料特性從而提高產品性能;5) 研究體系粒度的基本構成從而幫助新產品和生產工藝的開發。2. 應用領域1) PS、PVC及其它聚合物2) 炭黑、3) 金屬氧化物、金屬粉末4) 油墨、氧化鋁、氧化鈦5) 制藥、化妝品、食品、粘合劑6) 涂料、無機染料7)陶瓷、粘土、礦物
1) 進樣方式:均相進樣(HOST模式)探頭掃描速度:0.05~10mm/min2) 檢測光源:X射線3) 操作模式:重力沉降模式與離心沉降模式4) 粒度范圍:0.01~100um(與粘度、密度有關)5) 數據庫:無需消光校正6) 精度:2%7) 重復性:1%8) 旋轉盤材料:標準PMMA或特殊抗腐蝕盤9) 電機轉速:500~6000rpm,10000rpm可選10) 轉速精度:0.01%