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PI-85納米壓痕儀可以集成在掃描電子顯微鏡（SEM）里的一個深度控制納米力學檢測儀系統。通過這個系統能夠同時進行量化納米力學性能檢測和SEM形貌觀察。

瑞士CSM儀器公司的超納米壓痕測試儀器專門為要求超高分辨率壓入載荷與位移的*用戶設計制造。

TI-950 納米壓痕儀是*的納米力學檢測儀器，提供了業界*的靈敏度和*的性能。TI-950 設計為自動的、高通量儀器，支持 Hysitron開發的許多納米力學...

Hysitron TI-950型納米壓痕儀/納米力學測試系統用于納米壓痕測試、納米劃痕測試、納米摩擦磨損和原位SPM成像。

安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200，是在微、納米尺度上研究材料性質的zui為*的測試平臺。

主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過壓入載荷大小與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積。

The MML NanoTestTM 系統是一臺多功能的納米性能測試系統, 提供全面的納米機械和納米摩擦測量。

PI-95納米壓痕儀是*個成熟的在透射電子顯微鏡（TEM）內直接觀察納米力學行為的深度控制檢測系統。

Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產品中的一款產品，其閉環掃描的噪音水平接近一些開環掃描系統的水平，可廣泛應用于器件表征、物理、...