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首頁>>北京英格海德分析技術有限公司>>產品展示>>等離子體-材料表面>>飛行時間二次離子質譜儀

  • 飛行時間二次離子質譜儀 參考價：面議

    Hiden TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質譜儀工作站設計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及...
    型號： TOF-qSIMS 廠商性質：經銷商所在地：北京市 對比
    等離子體-材料表面離子質譜儀廠家供應離子質譜儀
    2021/12/29 18:13:24781
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