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Avio™ 200電感耦合等離子體發射高光譜成像儀
Avio™ 200電感耦合等離子體發射高光譜成像儀系統能處理難度超高的、未經稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。
而且，*的性能還帶來了*的易用性。*的硬件特性與業界zui直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。
作為市場上極小巧的 ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供至高效的操作、可靠的數據和超低的擁有成本：
•所有 ICP 中至低的氬氣消耗
•超快的 ICP 啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒）
•對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率
•具有雙向觀測技術的寬線性范圍
性能可靠、功能強大、經濟實惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。
既然可以成為*，誰還愿意當操作者？
Avio 200 ICP 專為滿足超具挑戰性的客戶需求并超越此類需求而設計，憑借一系列專有*的功能，可幫助您運行多個樣品，所取得的成本效益遠超以往任何時候。
至低的運行成本
借助獲得的 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，Avio 僅需消耗其他系統一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：
•所有 ICP 中超低的操作成本
•無需再進行與傳統螺旋負載線圈有關的冷卻和維護，提供出色的運行時間和生產力
另外，為了提高效率，珀金埃爾默儀器具有獲得的動態波長，穩定功能。可令您從關機狀態啟動，在短短幾分鐘內即可進行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關掉。
強大的雙向觀測功能
與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統不同，Avio 200 系統獲得的雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低
于 200 納米的元素也*可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統*的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍，確保實現：
•樣品制備和稀釋至小化
•高、低濃度可以在同一運行中進行測量
•更好的質量控制和更準確的結果
•減少重復運行
集成等離子體觀測相機
可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的 PlasmaCam™技術，盡享遠程監控等離子體的便利。作為行業*，彩色相機
可幫助您：
•實時觀測等離子體
•執行遠程診斷
•查看進樣部件
革新性 PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。
其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統*的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。就是一個*集成的、*自動化的、能提供*軸向分析的干擾消除系統。
CCD 檢測器，可實現的準確度和精密度
借助全波長功能，Avio 200 系統的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。
Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。
帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現的基體靈活性
即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：
•一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性
•自動自對準，即使在拆卸后也能提供*的深度設置
•兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性
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