白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta 參考價(jià):面議
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。白光干涉測(cè)厚儀 參考價(jià):面議
TF200白光干涉測(cè)厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)