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參考價	面議

折射儀

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雙折射測量儀PA-Micro是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的選擇。

詳細介紹

雙折射測量儀PA-Micro主要特點：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
高達2056x2464像素的偏振相機。

雙折射測量儀PA-Micro應用領域：

通信光纖
晶體
醫學細胞

技術參數：

項次	項目	具體參數
1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制