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四探針半導體粉末電阻率測試儀常見方法

來源:蘇州晶格電子有限公司   2024年12月30日 10:49  

  四探針半導體粉末電阻率測試儀是測量電池極片電導值的經常使用方法。這主要是因為四點探針法消除了探針與樣品(壓縮片或涂層)之間的接觸電阻。殊不知,有兩點特別注意。首先,在絕大部分四探針方法中,電極材料的漿體在絕緣電阻基板上涂上一薄層或適當薄厚,而不是像鋁箔這樣的集電極材料。

  在絕緣電阻基板上涂敷這樣的涂層的效果是為了更好地準確地測試電極材料的電導率,防止向基板方向的支流。假如襯底電流收集器材料,即便 分岔電流通過調整探頭的距離和其他方法,電流的方向平行轉移到涂料,忽視基體和涂層之間的差別,所以結果只可以代表涂層的電阻。

  實際情況極片,但界面電阻。第二,電池的電極涂層在實際應用相對較厚和四探針方法忽視了涂層梯度的磁極,只獲得涂層的電阻貢獻的一部分,不能描述磁極的電阻值。由于銅箔、鋁箔和探頭的材料均為高導電性材料,所以集流器和探頭的體電阻只占很小的一部分。

  以粉末活性材料為例,連接粉末電阻測試系統和低電阻率測試儀進行測試。粉末電阻測試不是測試單個粉末顆粒,而是測試整個聚集的粉末樣品。粉末聚集在氣缸和活塞系統中,由連接到油泵的活塞增壓。當壓力較小時,試樣密度相對較低,與粉末接觸較差,電導率較低,電阻率測試儀較高,但與強壓力相反。因此,需要特別注意的是,粉末樣品的電阻率測試儀/導電性會隨著壓力的增加而持續變化。濕度也會增加電導率,所以測試環境中的濕度也會影響測試。


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