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EDX 4500 天瑞儀器EDX 4500X熒光光譜儀

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天瑞儀器EDX 4500X熒光光譜儀 ,的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好;用于鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素等)

詳細信息 在線詢價

  性能參數
  
  產品型號:EDX 4500
  
  產品名稱:X熒光光譜儀
  
  測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
  
  元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
  
  同時分析元素:一次性可測幾十種元素
  
  分析精度:0.05% (含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性)
  
  測量時間:60秒-200秒
  
  探測器能量分辨率為:145±5eV
  
  管壓:5KV-50KV
  
  管流:50μA-1000μA
  
  測量對象狀態:粉末、固體、液體
  
  輸入電壓:AC 110V/220V
  
  環境溫度:15℃-30℃
  
  環境濕度:35%-70%
  
  外形尺寸:660mm×510mm×350mm
  
  樣品腔體積:Φ320mm×100mm
  
  重量:65Kg
  
  性能特點
  
  高效超薄窗X光管,指標達到*水平
  
  的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
  
  SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
  
  天瑞儀器產品—信噪比增強器(SNE),提高信號處理能力25倍以上
  
  低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好
  
  智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
  
  自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
  
  高信噪比的電子線路單元
  
  針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
  
  解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
  
  多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
  
  內置高清晰攝像頭
  
  液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
  
  標準配置
  
  高效超薄窗X光管
  
  SDD硅漂移探測器
  
  數字多道技術
  
  信噪比增強器 SNE
  
  鋼鐵行業測試配件
  
  光路增強系統
  
  高信噪比電子線路單元
  
  內置高清晰攝像頭
  
  自動切換型準直器和濾光片
  
  自動穩譜裝置
  
  三重安全保護模式
  
  相互獨立的基體效應校正模型
  
  多變量非線性回歸程序
  
  整體鋼架結構,力度可靠的保證
  
  90mm×70mm的液晶屏
  
  真空泵
  
  應用領域
  
  鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素等)


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