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Equotip 550 多功能硬度計

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Equotip550是便攜式硬度檢測中功能的一體化解決方案

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Equotip 550 是便攜式硬度檢測中功能的一體化解決方案。 里氏硬度原理基于動態(回彈)法,于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。

結合 Equotip Portable Rockwell 探頭,Equotip 550 可使用傳統的洛氏硬度靜態檢測法。 這將能夠在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值。

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業專家精心設計的界面,提高了檢測效率和改善用戶體驗。 改進的軟件可提供互動向導、自動驗證進程、個性化選項和自定義報告功能。 此外,該儀器可兼容后續開發產品。

全彩顯示屏使您能夠執行質量的測量和對已測得數據進行分析。特殊設計的外殼適于惡劣的現場使用環境。

迄今為止,Proceq 的 Equotip 已經成為廣泛認可的測量技術和行業標準。 Equotip 裝置滿足眾多行業對無損硬度檢測的要求。



Equotip Leeb

  • 根據需要自動轉換至所有通用的硬度單位(HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm)

  • 自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL(硬度為 800 HL 時,準確度為 0.5%)

  • 測量范圍廣泛,可利用各種沖擊裝置和支撐環來滿足絕大多數的硬度檢測要求。

  • 每個沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和精確的硬度測試塊,,用于定期驗證。


Equotip 550 Touchscreen Unit

  • 模塊化概念: 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用

  • 組合法: 在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

  • 引導向導: 預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度

  • 自動驗證: 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

  • 互動指南: 通過屏幕通知為您的應用獲取的設置

  • 轉換曲線: 直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線

  • 自定義報告: 模塊化報告處理器允許自定義測量報告

  • 自動選項: 將 NDT 自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境

  • 外殼經過特殊設計,可用于嚴苛的現場環境 (IP 54),包括背帶、集成支架和遮陽蓋

  • 高分辨率彩色顯示屏

  • 電池使用時長 > 8h

  • 8 GB 閃存

  • 雙核處理器,支持各種通信接口和外圍接口: 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

  • 通過直接兼容后續開發產品,實現未來保障投資

  • 里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量,還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測

  • 最合適用于材料挑選、驗收和生產環節檢測

  • 最合適用于重型和大型部件安裝前后的現場檢測

  • 方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地

Proceq 提供一些附件,例如一個測量夾或幾個支撐腳,適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

標準

  • ASTM A956 / E140 / A370

  • ISO EN 16859(即將發布)

  • DIN 50156

  • GB/T 17394

  • JB/T 9378


準則

  • ASME CRTD-91

  • DGZfP Guideline MC 1

  • VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

  • Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36

儀器:

顯示屏7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內存內置 8 GB 閃存
(可存儲多達 1000000 個測量值)
區域設置公制和英制單位,支持多種語言和時區
電池鋰聚合物,3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長> 8h(標準操作模式下)
電源輸入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量(顯示裝置)大約 1525 g(含電池)
尺寸250 x 162 x 62 mm
海拔2500 m 海拔高度
濕度< 95?%RH,非冷凝
操作溫度0°C 至 30°C(32 至 86°F)
(正在充電且儀器正在運行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F)
(正在充電且儀器關閉)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F)
(未充電)
環境適合室內與室外使用
IP 等級IP 54
污染等級2
安裝類別2


Equotip Leeb 沖擊裝置:

測量范圍1-999 HL
測量精度± 4 HL(800 HL 時為 0.5 %)
分辨率1 HL;1 HV;1 HB;0.1 HRA;0.1 HRB;
0.1 HRC;0.1 HS;1 MPa (N/mm2)
沖擊方向自動補償(DL 探頭除外)
沖擊能量
  • D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm

  • DL 探頭為 11.1 Nmm

  • C 探頭為 3.0 Nmm

  • G 探頭為 90.0 Nmm

沖擊體質量


  • D、DC、E、S 探頭為 5.45 克(0.2 盎司)

  • DL 探頭為 7.25 克(0.26 盎司)

  • C 探頭為 3.10 克(0.11 盎司)

  • G 探頭為 20.0 克(0.71 盎司)

球壓頭
  • C、D、DC 探頭為碳化鎢,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸)

  • DL 探頭為碳化鎢,直徑 2.78 毫米
    (0.11 英寸)

  • G 探頭為碳化鎢,直徑 5.0 毫米(0.2 英寸)

  • S 探頭為陶瓷,直徑 3.0 毫米(0.12 英寸)

  • E 探頭為多晶金剛石,直徑
    3.0 毫米(0.12 英寸)

操作溫度–10?C 至 50?C(14 至 122°F)

保修

  • 電子部件的保修期統一為 2 年

  • 可選擇最多3年時間的有償續保

Equotip Portable Rockwell

  • 以 HRC 和 HV 為單位的測量可自動轉換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標準的通用單位

  • 高準確度 ± 0.8 µm (~ ± 1.0 HRC) 全部測試范圍

  • 不受材料和樣品尺寸影響,快速獲取可復制的金屬硬度值

  • 微小的檢測負載只產生微米級的穿透深度

  • 探頭利用的測量夾和支撐腳,可以對各種幾何體進行檢測

  • 的算法選項,讓測量更快捷

  • 探頭可直接連接至 PC


Equotip 550 Touchscreen Unit

  • 模塊化概念: 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業應用

  • 組合法: 在現場自動將 Leeb 關聯至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值

  • 引導向導: 預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精確度

  • 自動驗證: 根據 ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證

  • 互動指南: 通過屏幕通知為您的應用獲取的設置

  • 轉換曲線: 直接在儀器上創建、編輯和驗證轉換曲線

  • 自定義報告: 模塊化報告處理器允許自定義測量報告

  • 自動選項: 將 NDT 自動操作集成至質量管理系統和自動檢測環境

  • 外殼經過特殊設計,可用于嚴苛的現場環境 (IP 54),包括背帶、集成支架和遮陽蓋

  • 高分辨率彩色顯示屏

  • 電池使用時長 > 8h

  • 8 GB 閃存

  • 雙核處理器,支持各種通信接口和外圍接口: 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網

  • 通過直接兼容后續開發產品,實現未來保障投資

應用
  • 可精確檢測從非常柔軟的材料到非常堅硬的材料的金屬硬度

  • 壁厚小于等于 2 毫米的細小部件、剖面和管道、薄片、卷曲金屬以及厚度為 0.2 毫米(0.008 英寸)的部件,取決于硬度級別

  • 檢測對刮擦敏感的表面或拋光表面

  • 在焊縫附近受熱區域的金屬硬度檢測

Proceq 提供一些附件,例如一個測量夾或幾個支撐腳,適合在各種測試件結構上進行手動硬度測量

標準

  • DIN 50157

準則

  • DGZfP Guideline MC 1

  • VDI / VDE Guideline 2616 Paper 1

儀器:

顯示屏7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素
內存內置 8 GB 閃存
(可存儲多達 1000000 個測量值)
區域設置公制和英制單位,支持多種語言和時區
電池鋰聚合物,3.6 V、14.0 Ah
電池使用時長> 8h(標準操作模式下)
電源輸入

12 V +/-25 % / 1.5 A

重量(顯示裝置)大約 1525 g(含電池)
尺寸250 x 162 x 62 mm
海拔2500 m 海拔高度
濕度< 95?%RH,非冷凝
操作溫度0°C 至 30°C(32 至 86°F)
(正在充電且儀器正在運行)
0°C 至 40°C(32 至 104°F)
(正在充電且儀器關閉)
-10°C 至 50°C(14 至 122°F)
(未充電)
環境適合室內與室外使用
IP 等級IP 54
污染等級2
安裝類別2

Equotip Portable Rockwell 探頭:

尺寸112.5 x o 42 毫米(4.4 x o 1.6 英寸)
重量260 克(9.17 盎司)
電源通過 USB(5 V, 100 mA)
測量范圍0-100 µm;19-70 HRC;34-1080 HV
測量精度1.5 HRC,參考 DIN 50157
分辨率

0.1 µm;0.1 HRC;1 HV

檢測方向任意方向(不需要校正)
檢測負載10 N / 50 N(探頭 50 N)
金剛石壓頭角度 100.0° +/- 0.5°
操作溫度0°C 至 50°C(32 至 122 °F)
濕度非冷凝, 90%

保修

  • 電子部件的保修期統一為 2 年

  • 可選擇最多3年時間的有償續保




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