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F400探頭

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F400探頭TT260、CT2800選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量,可獲得更精確的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性,另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí),F(xiàn)400探頭也是不錯(cuò)的選擇

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F400探頭

TT260、CT2800選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測(cè)量,可獲得更精確的測(cè)量結(jié)果和更高的重復(fù)性,另外在管材基體直徑較小或者被測(cè)區(qū)域接觸面積較小時(shí),F(xiàn)400探頭也是不錯(cuò)的選擇。

測(cè)頭型號(hào)

F400

工作原理

磁感應(yīng)

測(cè)量范圍(um)

0-400

低限分辨力(um)

0.1

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[3%H+1]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[(1~3)%H+0.7]

測(cè)量條件

最小曲率半徑(mm)

凸 1

基體最小面積的直徑(mm)

ф3

最小臨界厚度(mm)

0.2

探頭尺寸(mm)

ф12X55


涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào)

F400

F1

F1/90°

F10

N1

CN02

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測(cè)量范圍(um)

0-400

0-1250

0-10000

0-1250(銅上鍍鉻0-40um)

10-200

低限分辨力(um)

0.1

0.1

10

0.1

1

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[3%H+1]

±[3%H+10]

±[3%H+1.5]

±[3%H+1]

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)

±[(1~3)%H+0.7]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1.5]

-

測(cè)量條件

最小曲率半徑(mm)

凸 1

凸1.5

平直

10

3

平直

基體最小面積的直徑(mm)

ф3

ф7

ф7

ф40

ф5

ф7

最小臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.5

2

0.3

無限制

覆蓋層
基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層 (:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過100µm

覆蓋層厚度超過100µm

覆蓋層厚度不超過100µm

覆蓋層厚度超過100µm

如 鐵、鋼
等磁性金屬

被測(cè)面積的直徑大于30mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm
F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm
F10 型測(cè)頭 0~10mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm
F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F1 型測(cè)頭 0~1250µm
F10 型測(cè)頭 0~10mm

被測(cè)面積的直徑小于30mm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm
F1 型測(cè)頭 0~1250µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm

F400 型測(cè)頭 0~400µm
F1 型測(cè)頭 0~1250µm

如銅 、鋁 、
黃銅 、鋅 、錫
等 有色金屬

被測(cè)面積的直徑大于5mm

N1 型測(cè)頭 0~1250µm

僅用于銅上鍍鉻N1 型測(cè)頭 0~40µm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積的直徑大于7mm

-

-

CN02 型測(cè)頭10~200µm





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