美國GE Mentor UT 相控陣探傷儀產(chǎn)品簡介      點擊下載?

MentorUT

全新概念便攜式相控陣超聲探傷儀

全新相控陣超聲檢測理念

GE檢測科技一直致力于使用新技術提高超聲檢測的可靠性，檢測效率，降低超聲檢測對人員的要求，同時降低檢測成本。相控陣超聲檢測技術大大提高了檢測的可靠性與效率，然而相控陣超聲檢測技術提高了對檢測人員的要求，增加了人員培訓成本。

為了降低相控陣超聲檢測對人員的要求，降低人員培訓成本，在設計相控陣超聲探傷儀時采用了全開放式儀器設計平臺，將復雜的檢測工藝融入自定義的向導式操作界面，使相控陣檢測探傷儀操作限度簡單化，降低檢測人員培訓成本。在儀器設計中采用了的電子技術，確保優(yōu)異的性能及各種功能能夠滿足各種檢測要求，同時使用了的工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)技術，使相控陣超聲數(shù)據(jù)傳輸，遠程控制更加便捷。

全開放式的儀器操作平臺

全開放式的儀器操作平臺Mentor Create 可以讓用戶根據(jù)自已的要求設計儀器的操作界面，根據(jù)自已的要求設計所需菜單，自已設計顯示圖像大小等等。

將檢測工藝融合到應用
用戶可以在Mentor Create 軟件平臺自已設計并創(chuàng)建檢測應用 APP, 在設計APP 時，用戶可以將檢測工藝標準融入APP 中，根據(jù)檢測工藝設計檢測流程，操作界面，操作菜單，顯示界面，生成的APP 可以運行于所有的Mentor UT 主機。

限度降低對檢測人員的要求

向導式的檢測工藝流程限度降低了對檢測人員的要求，在檢測工藝流程中可以融入文檔，圖片，視頻等內容，降低檢測人員犯錯的概率，降低人為因素對檢測結果的影響。

應用了的電子技術

240mm 超大觸摸屏顯示

高靈敏觸摸屏支持帶手套進行操作

IP65 防護等級

360 度可讀顯示屏

通過MIL-STD-810G 標準測試認證

強大的相控陣功能

支持A掃描，B掃描，扇形掃描，C掃描

支持同時激發(fā)32晶片

支持128晶片探頭

20KHz超高脈沖重復頻率

C掃描保存所有的A掃描原始數(shù)據(jù)

離線動態(tài)C掃描實時顯示

測量峰值800%

支持雙晶相控陣模式

基于互聯(lián)網(wǎng)+檢測管理平臺

MentorUT可以通過無線網(wǎng)絡接入到互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)，通過互聯(lián)網(wǎng)可以在實時共享檢測界面，與檢測專家實時互動分析顯示缺陷信號，并且對MentorUT進行遠程控制與診斷。同時在檢測現(xiàn)場，可以同時通過多臺手機，平板電腦等移動終端設備同時顯示儀器界面，并對儀器進行遠程控制。

滿足各種檢測應用要求

通過Mentor UT 檢測腐蝕可以很容易實現(xiàn) 大面積掃查，容易找到最嚴重腐蝕點，通過C 掃描圖像直接顯示腐蝕輪廓，測量腐蝕大小，近表面分辨率達2mm, 配備各種掃查器滿足各種工況要求，實現(xiàn)手動，半自動，全自動掃查。

焊縫檢測

通過相控陣多角度大面積掃查可以極大提高檢測效率，提高缺陷的檢出率，通過圖像直觀顯示缺陷信息，使缺陷的定量，定性更加準確，在B 掃描和C 掃描圖像上可以準確測量缺陷的尺寸信息。配備各種掃查器可滿足各種現(xiàn)場檢測要求，可實現(xiàn)手動 ,半自動，全自動掃查。

小管徑焊縫檢測

小管薄壁管焊縫檢測時，由于管徑小，探頭接觸面積小，而且壁厚較薄，需要特殊掃查器進行檢測，該掃查器由3D 打印而成，操作非常方便，耦合非常穩(wěn)定。

復合材料檢測

小管徑焊縫檢測

通過Mentor UT 可以很方便對復合材料實現(xiàn)便攜式C 掃描檢測，大面積掃查可以提高檢測效率，提高檢測分辨率與靈敏度，可以在C 掃描圖上直接測量出缺陷尺寸大小和位置信息。

各種選配掃查器

為了滿足各種現(xiàn)場檢測要求，可以選配各種一維，二維掃查器實現(xiàn)手動，半自動，全自動檢測。

模塊化設計

為了滿足各種應用需求，Mentor UT 采用模塊化設計，根據(jù)不同應用要求可選擇不同模塊，Mentor UT 主機支持32:32 激發(fā)，能夠同時激發(fā)32 晶片，支持32 單晶與雙晶相控陣探頭，如果需要大面積掃查，在Mentor UT 主機 上加配一個MUX 多路切換器即可支持128 晶片相控陣探頭。為了使Mentor UT 與各種接口探頭兼容，可訂購各種探頭接口轉換器。

Mentor UT 32:32 主機

Mentor UT 32:32 主機帶轉換器

Mentor UT 32:128 主機帶MUX 多路切換器