一，滿足試驗標準：

AEC Q101（車規級芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱

JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

二，應用領域：

PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片……

威旭儀器-HAST高壓加速壽命老化箱：

1.內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。

2.產品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗濕性試驗以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗。

3.產品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗濕性試驗。