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SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B顯微熔點儀

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測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

詳細(xì)信息 在線詢價

    測定物質(zhì)的熔點。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

    技術(shù)參數(shù)

        SGW®X-4  SGW®X-4A  SGW®X-4B
      熔點測量范圍  室溫至320℃  室溫至320℃  室溫至320℃
      測量重復(fù)性  ±1℃ (在<200℃ 時)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)  ±1℃ (在<200℃ 時)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)  ±1℃ (在<200℃ 時)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時)
      溫度顯示最小值  1℃  0.1℃  0.1℃
      熔點觀察方式  單目顯微鏡  單目顯微鏡  雙目體視顯微鏡
      光學(xué)放大倍數(shù)  40×  40×  40×-100×連續(xù)變倍


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