Agilent 5900 SVDV ICP-OES 系統是一種發射光譜儀，專為要求嚴格的高通量實驗室而設計。利用該系統，您可以在更短時間內以低于其他任何 ICP-OES 儀器的樣品成本獲得可靠答案。

憑借創新的自由曲面光學設計與包含眾多內置傳感器、算法和診斷功能的智能化監控體系，以及針對提高通量而進行的全面優化，5900 SVDV ICP-OES 可確保讓您在競爭中脫穎而出。

采用同步垂直雙向觀測 (SVDV)，實驗室能夠以較低成本運行更多樣品，該觀測模式憑借的智能光譜組合技術 (DSC)，可在一次讀數過程中同時獲得軸向和徑向的等離子體觀測數據，從而實現高速高效的樣品分析，確保復雜基質樣品的分析準確度。

使用 5900 ICP OES 隨附的集成式高級閥系統 (AVS)，加快分析速度并大大減少氬氣用量，同時實現高精度的分析。

在數秒內開始采集數據，無需選擇使用 IntelliQuant Screening 分析的元素或波長

使用安捷倫的 IntelliQuant 功能，了解有關樣品的更多信息。IntelliQuant 能夠采集整個波長范圍內的數據，識別光譜干擾并為您提供建議，確保您始終獲得準確結果。

通過傳感器和計數器進行智能儀器狀態追蹤，并在系統需要維護時為用戶提供指導，助您有效縮短停機時間、降低維護成本。

Neb Alert 功能可持續監測霧化器，并在霧化器需要清潔或發生泄漏時提醒您，從而避免時間浪費和故障排除成本。

內置于 ICP Expert 軟件的智能算法使方法開發更有據可依，并能實現自動化故障排除，包括：擬合背景校正 (FBC)、快速自動曲線擬合技術 (FACT)、元素間干擾校正 (IEC)、IntelliQuant 和智能沖洗。

利用 ICP Expert Pro 軟件提高分析效率和增強質量控制，該軟件為用戶提供了實時導出到 Microsoft Excel、自定義重復檢測、集成的 prepFAST 自動稀釋器操作、速率驅動的 QC 以及其他高級軟件功能。

的智能光譜組合技術

Agilent 5900 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 具有的智能光譜組合技術 (DSC) 。DSC 允許從等離子體軸向觀測捕獲痕量元素發射的光。同時，它還能從等離子體徑向觀測捕獲由典型的較高豐度元素 Na 和 K 發射的光。在一次測量中完成兩種觀測，并以的速率提供準確的結果。

利用 SVDV 模式可消除進行一系列軸向和徑向順序測量以及復雜方法開發的需求。

縮短停機時間

利用垂直定位的炬管測量總溶解態固體含量高的樣品時炬管上的沉積物更少。沉積物更少意味著減少了清潔需求、縮短了停機時間并降低了所需備用炬管的消耗。

同時使用垂直炬管的軸向和徑向觀測，可以在測量 Na 和 K 等高濃度元素的同時測量痕量元素。

垂直炬管適用于 5800 和 5900 ICP-OES 儀器，該設計能夠實現對復雜樣品的穩定測定

降低維護及使用成本

由于 5900 SVDV ICP-OES 只需一次測量即可獲得樣品中所有觀測模式的結果，因此其分析速率比其他任何 ICP-OES 儀器都快。快速測量意味著氬氣消耗量更少。而更少的氬氣消耗量則意味著成本的降低。

例如，在 5900 儀器的 SVDV 模式下使用 US EPA 200.7 方法測量單個水樣需要消耗 20 L 氬氣，在 5800 的雙向觀測模式下則需要 27 L，而競爭對手儀器的氬氣消耗量則超過了 40 L。