高溫納米壓痕測試儀HT-UNHT是一個低載荷的納米力學測試系統，可用于測量在高達 700 ℃ 溫度下薄膜和涂層的硬度和彈性模量。已獲磚利的高溫納米壓痕測試儀HT-UNHT 主動式表面參比技術與*的加熱技術相結合，可在任何溫度條件下提供高穩定性解決方案。目前提供 3 種解決方案：- 高達 200 ℃（帶有液體冷卻）- 高達 450 °C（帶有液體冷卻）- 高達 700 ℃（真空

奧地利安東帕Anton Paar高溫納米壓痕測試儀HT-UNHT

高溫納米壓痕測試儀 (HT-UNHT) 是一個低載荷的納米力學測試系統，可用于測量在高達 700 ℃ 溫度下薄膜和涂層的硬度和彈性模量。
已獲磚利的 UNHT 主動式表面參比技術與*的加熱技術相結合，可在任何溫度條件下提供高穩定性解決方案。

目前提供 3 種解決方案：
- 高達 200 ℃（帶有液體冷卻）
- 高達 450 °C（帶有液體冷卻）
- 高達 700 ℃（真空）

力： 100 mN
深度：100 um
溫度： 700 °C