PHL應力雙折射測量儀PA-300-MT
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的優擇。

PHL應力雙折射測量儀PA-300-MT主要特點：
 

• 操作簡單，測量速度可以快到3秒；
• 視野范圍內可一次測量，測量范圍廣；
• 更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點；
• 具有多種分析功能和測量結果的比較；
• 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構;
• 高達2056x2464像素的偏振相機。

PHL應力雙折射測量儀PA-300-MT應用領域：

• 小尺寸樣品
• 光學鏡頭

PHL應力雙折射測量儀PA-300-MT主要技術參數：