XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平

【簡單介紹】

XP205DR梅特勒微量分析天平 無錫梅特勒托利多天平維修處
梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

【詳細說明】

【詳細說明】

XP205DR梅特勒微量分析天平技術特性：

· 紅外感應器（SmartSense），實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等 

· 彩色智能觸摸屏（SmartScreen），實現安全，便捷的天平操作 

· 網格秤盤（SmartGrid），獲得快速、準確稱量結果 

· 水平控制系統（LevelCControl）,  在天平偏移水平位置時提供警告提示功能 

· 易巧稱量組件（ErgoClip），滿足使用不同容器的稱量需求 

· 用戶管理工具（UserManagement），可以獨立設置操作者的使用權限 

· MinWeighzui小稱量值功能，提供符合規范的稱量幫助（需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活）

XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平

· 天平校驗功能（BalanceCheck），自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確 

· ProFACT專業級全自動校準技術，溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得精確稱量結果 

· *可拆卸、清洗的防風罩設計，實現快速清潔 

· 高度可調節的內置防風罩，確保精確稱量結果 

· 可移動、分離的顯示控制終端，方便天平使用 

· 標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備

· 顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕

· 6種內置應用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統計功能、公事稱量

· 

XP205DRXP205DR梅特勒微量分析天平技術指標：